[发明专利]一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统有效
申请号: | 202111153906.3 | 申请日: | 2021-09-29 |
公开(公告)号: | CN113759200B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 田芳宁;孙国强;束峰涛;佟文清;苏建军;白一峰 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人: | 何梓秋 |
地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 处理 数字 插件 通用 自动 测试 系统 | ||
本发明公开了一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统,属于数字插件测试技术领域,包括数字插件测试台、图像采集处理模块、测试仪表模块、控制处理模块。本发明能够基于对数字插件的图像处理,识别判断数字插件型号和需要测式的节点,调用相应的自动测试程序,完成各个节点的指标测试,不但能够测试输入输出信号类型,而且通过探针移动能够对插件任意焊点或测试点进行测试,并根据测试结果给出该数字插件可能的故障部位,协助使用人员进行故障维修,值得被推广使用。
技术领域
本发明涉及数字插件测试技术领域,具体涉及一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统。
背景技术
随着科技的发展,电子产品越来越多,其中使用的数字电路品种和数量也越来越多,不同的数字电路采用不同的电子器件,其实现的功能和达到的指标也具有很大的差异,目前都是采用人工测量的方法进行功能性能测试和故障诊断维修,而人工测量需要对数字插件的具体电路和功能性能指标具有充分的理解,因此每个人只能负责某一品种或某几个品种数字电路的测量。
对于长寿命的雷达来说,其使用寿命一般达到20年以上,雷达型号多,每种型号的雷达产量少,而每个型号的雷达都需要使用不同的数字插件,如果全部使用人工测量,则需要占用大量的人力资源,即使雷达停产后,为了保障雷达的正常使用,仍需要占用部分技术人员对数字插件进行维修和测试;而且人工测量效率比较慢,耗费时间多,测试及故障诊断对操作人员的专业水平要求很高。并且随着技术的发展,雷达越来越多,占用的人力资源也越来越多,给企业带来的负担也越来越重。
可以预测,未来的数字插件的指标测试及故障诊断将逐步走向自动化、智能化的道路;一种通用数字插件的非原理性测试装置及其测试方法(ZL201510229128.X)通过测试系统产生测试向量信号,并将产生的测试向量与接收的测试向量对比,从而判断信号传输通道的短路、断路等故障,但大部分电路板不但能保证信号的连通,而且需要对信号进行处理,输出的信号与输入信号具有较大差异,该专利只比较测试信号的幅度,不涉及信号的类型;而且该专利仅能定位到某个通路的断点或虚焊点的大概位置,具体断点位置不能准确判断。为此,提出一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于:如何更好地满足不同品种数字插件的自动测试要求,降低数字插件测试对人员的需求,提高测试效率,提供了一种基于图像处理的数字插件通用自动测试系统。
本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的,本发明包括数字插件测试台、图像采集处理模块、测试仪表模块、控制处理模块;
所述数字插件测试台,用于完成数字插件的固定及对外连接任务,使数字插件的对外接口与测试仪表模块互通,进而使待测数字插件根据输入信号产生相应的信号输出;
所述图像采集处理模块,用于进行数字插件图像的采集和其中芯片、元器件布局特征提取,并将提取的特征与特征数据库中储存的数据进行对比,识别判断待测数字插件的类型,并将识别结果输出到控制处理模块;
所述测试仪表模块,用于在所述控制处理模块的控制下,产生数字插件需要的输入信号,并采集数字插件的输出信号,同时将产生信号和采集信号输出到控制处理模块;
所述控制处理模块,用于控制完成数字插件的测试工作,判断数字插件处于正常或故障状态,对故障件给出可能的故障部位和建议维修方案。
更进一步地,所述数字插件测试台包括三维丝杆模组、控制箱、平台、信号转接单元、固定夹具、检测探针;所述三维丝杆模组带动所述检测探针做X、Y、Z轴方向的移动,使得所述检测探针与数字插件的任意位置实现良好接触;所述控制箱在所述控制处理模块的控制下驱动所述三维丝杆模组运动;所述固定夹具设置在所述平台上,并根据数字插件尺寸调整大小,在测试过程中固定数字插件;所述检测探针一端与数字插件的测试点连接或断开,另一端与测试仪表模块连接;所述信号转接单元即测试接口,设置在所述平台上,一端与待测数字插件的对外接口通信连接,另一端与测试仪表模块通信连接。
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