[发明专利]一种MEMS红外光源及其制备方法在审
申请号: | 202111156777.3 | 申请日: | 2021-09-30 |
公开(公告)号: | CN113979402A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 陶继方;树东生 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00;H05B3/00 |
代理公司: | 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247 | 代理人: | 刘娜 |
地址: | 250013 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mems 红外 光源 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种MEMS红外光源及其制备方法,从下到上依次包括衬底、支撑薄膜、加热层和辐射层,所述加热层表面通过刻蚀形成加热电阻结构,所述辐射层位于加热电阻结构上方,所述衬底上开设上下贯穿所述衬底的空腔,所述空腔的横截面积大于所述辐射层的面积,所述支撑薄膜位于所述空腔上方边缘的位置处为波纹膜结构。本发明所公开的MEMS红外光源利用波纹膜结构将应力转换为水平方向的位移,从而释放红外光源工作时产生的热应力,避免在辐射层的局部高温下,支撑薄膜的中心发生很大的纵向位移;进而解决了红外光源在工作时,热应力导致的支撑薄膜破裂问题,提高了红外光源的稳定性,有利于延长红外光源的使用寿命。
技术领域
本发明涉及光电元器件技术领域,特别涉及一种MEMS红外光源及其制备方法。
背景技术
MEMS红外光源是根据热辐射原理,通过对MEMS薄膜加热,向外辐射宽谱红外光。MEMS红外光源基本组成由衬底,支撑薄膜,加热层和辐射层组成。衬底用于支撑整个支撑薄膜及加热层和辐射层。支撑薄膜是加热层和辐射层的支撑结构。加热层是用导电金属组成,通过施加一定电压,将电转换成热能。由于黑体辐射产生的红外光谱取决于辐射温度,光源在正常工作时薄膜区域升温到几百摄氏度。然后通过热辐射原理,向外辐射宽谱红外光。
目前,MEMS红外光源是通过半导体工艺加工制作的,起始于硅晶圆衬底,然后硅在晶圆上沉积起支撑作用的薄膜结构,然后再通过在薄膜上制作加热层和辐射层。但是在光源工作的过程中,光源正常的工作温度为400℃,这样薄膜由于其自身的热膨胀,会产生较大的热应力,薄膜易发生破裂。而且在光源开关过程中,薄膜温度会不断地升高和降低,这样便减小了其机械强度,降低了光源的稳定性。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种MEMS红外光源及其制备方法,在支撑薄膜的边缘位置处增加波纹膜结构,以达到释放光源工作时产生的热应力,提高红外光源的稳定性的目的。
为达到上述目的,本发明的技术方案如下:
一种MEMS红外光源,从下到上依次包括衬底、支撑薄膜、加热层和辐射层,所述加热层表面通过刻蚀形成加热电阻结构,所述辐射层位于加热电阻结构上方,所述衬底上开设上下贯穿所述衬底的空腔,所述空腔的横截面积大于所述辐射层的面积,所述支撑薄膜位于所述空腔上方边缘的位置处为波纹膜结构。
在一种技术方案中,所述支撑薄膜为单层薄膜,所述单层薄膜为氧化硅薄膜或氮化硅薄膜。
在另一种技术方案中,所述支撑薄膜为双层薄膜,所述双层薄膜包括位于下层的氧化硅薄膜和位于上层的氮化硅薄膜。
上述方案中,所述衬底为硅材料,所述加热层为铂金属,所述辐射层为铂黑、碳纳米管或多孔硅。
一种支撑薄膜为单层薄膜的MEMS红外光源的制备方法,包括如下步骤:
(1)选择一硅晶圆作为衬底;
(2)在硅晶圆上表面用于形成波纹膜结构的区域进行刻蚀,形成凹槽结构;
(3)在硅晶圆上沉积氧化硅薄膜或氮化硅薄膜;
(4)在氧化硅薄膜或氮化硅薄膜上生长加热层,并进行金属剥离形成加热电阻结构;
(5)在硅晶圆背面进行干法刻蚀或湿法腐蚀形成空腔,并在加热层的加热电阻结构上方沉积辐射层。
一种支撑薄膜为单层薄膜的MEMS红外光源的另一种制备方法,包括如下步骤:
(1)选择一硅晶圆作为衬底;
(2)在硅晶圆上表面沉积氧化硅薄膜或氮化硅薄膜,并在用于形成波纹膜结构的区域进行刻蚀,形成凹槽结构;
(3)在氧化硅薄膜或氮化硅薄膜上生长加热层,并进行金属剥离形成加热电阻结构;
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