[发明专利]间接连接式光纤陀螺组件测试装置

说明书

本发明提供一种间接连接式光纤陀螺组件测试装置，包括测试组件，测试组件内设有集成光电系统，集成光电系统用于测试待测组件，集成光电系统设有多个尾纤和多个电路连接端，测试组件一侧设有转接器，各尾纤和各电路连接端通过转接器与待测组件连接，解决了传统的光纤陀螺组件测试装置在使用一段时间后需要更换测试组件或拆开内部重新更换尾纤及电路连接端的问题。

技术领域

本发明涉及光纤陀螺测试领域，尤其是涉及一种间接连接式光纤陀螺组件测试装置。

背景技术

现代光纤陀螺仪是一种能够精确地确定运动物体方位的仪器，它是现代航空，航海，航天和国防工业中广泛使用的一种惯性导航仪器，它的发展对一个国家的工业，国防和其它高科技的发展具有十分重要的战略意义。零漂是衡量光纤陀螺精度的最重要、最基本的指标，产生零漂的主要因素是沿光纤分布的环境温度变化在光纤线圈内引入的非互易性相移误差，因此在光纤陀螺生产时需要测试温度对于光纤陀螺各组件的影响。由于光纤陀螺精度要求较高，在生产组装的各阶段需要对已组装的光纤陀螺组件进行多次测试，以测试温度对各新增零件的影响，如1#-“光纤环”、2#-“Y波导+光纤环”、3#-“耦合器+Y波导+光纤环”、4#-“光源+耦合器+Y波导+光纤环”、5#-“探测器+耦合器+Y波导+光纤环”、6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”，等共六种常见的光路组件形式，其中，6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”为常规的光纤陀螺仪的完全形态。

根据现有技术201610703910.5光纤陀螺用光纤环温度性能的测试系统中的记载，该系统通过其设计，能够实现1～3个光纤环的温度测试，不能对“光纤环+Y波导”组件和“光纤环+Y波导+耦合器”组件进行测试；根据现有技术201610933044.9一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法及装置中的记载，该装置通过该方法和装置能够获得光纤环的温变特性，待测件为光纤环，而不能对多种组件进行测试；根据现有技术201611236425.8多功能可调节光纤陀螺调试及光纤环测试装置及使用方法中的记载，该装置主要是将陀螺测试和光纤环测试（适应各种尺寸的光纤环）相结合，而不能对多种组件进行测试。

现有技术参见202010013826.7光纤陀螺多组件测试系统，该方案主要测试1#-“光纤环”、2#-“Y波导+光纤环”、3#-“耦合器+Y波导+光纤环”，本方案加以改进，减少了一个探测器的同时能够兼容4#-“光源+耦合器+Y波导+光纤环”、5#-“探测器+耦合器+Y波导+光纤环”、6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”的测试。

光纤陀螺光学元件测试时，测试组件的外接尾纤通常与待测元件熔接，电路端通过传统的端子排连接，测试结束后，尾纤端将熔接点剪断，因此测试组件的尾纤端每次会被消耗一节，而电路端从端子排上拆下时，也会存在压痕，为保证测试质量，也会截除该段。由于电路端及尾纤预留过长会影响测试效果，因此当尾纤和电路端被消耗完时，通常采用更换测试组件或拆开内部重新更换尾纤及电路端，前者造成大量浪费，后者费时费力。

发明内容

本发明提供了一种间接连接式光纤陀螺组件测试装置，解决了传统的光纤陀螺组件测试装置在使用一段时间后需要更换测试组件或拆开内部重新更换尾纤及电路连接端的问题。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种间接连接式光纤陀螺组件测试装置，包括测试组件，测试组件内设有集成光电系统，集成光电系统用于测试待测组件，集成光电系统设有多个尾纤和多个电路连接端，测试组件一侧设有转接器，各尾纤和各电路连接端通过转接器与待测组件连接。

优选的方案中，转接器包括块体，块体设有多个贯通的插孔，插孔内一端设有尾纤连接头或卡头端子，尾纤连接头与尾纤连接，卡头端子一端与电路连接端连接，卡头端子另一端用于连接外部接线；

还设有外接纤，外接纤一端用于连接待测组件，外接纤另一端套有外接纤连接头，外接纤连接头插入插孔中，外接纤连接头端部抵靠尾纤连接头的端面。