[发明专利]一种非晶合金磁致伸缩测量方法及装置

权利要求书

1.一种非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

将非晶合金叠片铁心上缠绕磁通密度测量线圈，在所述非晶合金叠片铁心的上表面和至少一个侧表面设置反光片；

将所述非晶合金叠片铁心置于包含有U型磁轭的浇注体上，所述U型磁轭上缠绕有激励线圈，所述非晶合金叠片铁心与所述U型磁轭形成闭合磁路，然后将所述非晶合金叠片铁心一端固定，另一端安装应力传感器；

在测量时，向所述应力传感器施加拉力或张力，然后利用发射光源向所述反光片发射光信号，向所述激励线圈施加激励电压，通过磁通密度测量线圈实时测量所述非晶合金叠片铁心中的磁通密度，调整激励电压直至磁通密度达到设定值，然后测量所述反光片上的反射光线变化，获得非晶合金叠片铁心的磁致伸缩量。

2.根据权利要求1所述的非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，所述非晶合金叠片铁心由相同的长条形非晶合金带材条片叠积而成。

3.根据权利要求2所述的非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，

所述非晶合金叠片铁心由相同的长条形非晶合金带材条片为竖立状态叠积而成。

4.根据权利要求1或2所述的非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，所述非晶合金叠片铁心的长度大于U型磁轭的长度，所述非晶合金叠片铁心的宽度与所述U型磁轭的宽度相同。

5.根据权利要求1或2所述的非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，所述包含有U型磁轭的浇注体为长方体，U型磁轭开口处两个完全相同的磁轭端面与所述包含有U型磁轭的浇注体的上表面处于同一水平面上。

6.根据权利要求1或2所述的非晶合金磁致伸缩测量方法，其特征在于，磁通密度测量线圈的匝数≥10匝。

7.一种非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，包括：

非晶合金叠片铁心，所述非晶合金叠片铁心上缠绕磁通密度测量线圈，在所述非晶合金叠片铁心的上表面和至少一侧表面设置反光片；

包含有U型磁轭的浇注体，所述非晶合金叠片铁心置于所述包含有U型磁轭的浇注体上，所述U型磁轭上缠绕有激励线圈，所述非晶合金叠片铁心与所述U型磁轭形成闭合磁路；

支撑台，设置在包含有U型磁轭的浇注体长度方向的一侧，与非晶合金叠片铁心一端可拆卸连接，用于固定所述非晶合金叠片铁心；

应力传感器，与非晶合金叠片铁心另一端可拆卸连接；

激光反射测量振动装置，包括第一激光反射测量振动装置和第二激光反射测量振动装置，第一激光反射测量振动装置设置在远离应力传感器的非晶合金叠片铁心端部的一侧，第二激光反射测量振动装置设置在非晶合金叠片铁心侧面的一侧；第一激光反射测量振动装置能够向非晶合金叠片铁心侧表面设置的反光片发射光信号；第二激光反射测量振动装置能够向非晶合金叠片铁心上表面设置的反光片发射光信号。

8.根据权利要求7所述的非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，所述包含有U型磁轭的浇注体为长方体，U型磁轭开口处两个完全相同的磁轭端面与所述包含有U型磁轭的浇注体的上表面处于同一水平面上。

9.根据权利要求8所述的非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，

所述非晶合金叠片铁心由相同的长条形非晶合金带材条片叠积而成。

10.根据权利要求8所述的非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，

所述非晶合金叠片铁心由相同的长条形非晶合金带材条片为竖立状态叠积而成。

11.根据权利要求8所述的非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，

所述非晶合金叠片铁心的长度大于U型磁轭的长度，所述非晶合金叠片铁心的宽度与所述U型磁轭的宽度相同。

12.根据权利要求11所述的非晶合金磁致伸缩测量装置，其特征在于，

磁通密度测量线圈的匝数≥10匝。