[发明专利]一种信号测试分析装置及方法

说明书

本发明公开了一种信号测试分析装置及方法，该装置包括：所述信号采集单元，用于：对故障事件对应的多路信号进行采集；所述主控单元，用于：对所述信号采集单元采集到的信号进行分析得到与所述故障事件对应的故障数据，将所述故障数据存储至所述存储单元中和/或通过所述通信单元将所述故障数据传输至控制器中供分析所述故障事件；所述存储单元，用于：存储所述主控单元分析得到的故障数据；所述通信单元，用于：将所述主控单元分析得到的故障传输至控制器中。可见，本申请的信号测试分析装置集多通道信号采集、存储及通信于一体，能够针对硬件模拟量偶尔故障进行全面复现分析，便于实现对硬件模拟量偶尔故障的测试，且成本低、简易方便。

技术领域

本发明涉及故障分析技术领域，更具体地说，涉及一种信号测试分析装置及方法。

背景技术

随着人工智能、大数据、云计算及边缘计算等技术的兴起，针对各种应用场景的智能卡及计算机产品越来越多。测试验证是保证硬件项目转产的必要流程，也是质量提升的途径。在各公司，通常计算机产品测试方法领域已经具备较深的技术积累，具备一系列的标准化或自动化测试流程，可以大面积覆盖产品的应用场景；但是在计算机产品转产过程中，仍会有一些个别随机出现的硬件模拟量异常故障(如温度、电压等偶发信号异常)，针对此类故障缺少能够低成本简易方便实现测试的方案。

发明内容

本发明的目的是提供一种信号测试分析装置及方法，便于实现对硬件模拟量偶尔故障的测试，且成本低、简易方便。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种信号测试分析装置，包括信号采集单元、主控单元、存储单元以及通信单元，所述主控单元分别与所述信号采集单元、所述存储单元及所述通信单元连接；其中：

所述信号采集单元，用于：对故障事件对应的多路信号进行采集；

所述主控单元，用于：对所述信号采集单元采集到的信号进行分析得到与所述故障事件对应的故障数据，将所述故障数据存储至所述存储单元中和/或通过所述通信单元将所述故障数据传输至控制器中供分析所述故障事件；

所述存储单元，用于：存储所述主控单元分析得到的故障数据；

所述通信单元，用于：将所述主控单元分析得到的故障传输至控制器中。

优选的，所述主控单元还用于：在对所述信号采集单元采集到的信号进行分析之前，对所述信号采集单元采集到的信号进行模拟信号至数字信号的转换。

优选的，所述主控单元包括分析子单元，所述分析子单元用于：实时判断完成模拟信号至数字信号转换的信号是否越限制，确定越限制的信号为故障数据，并将产生所述故障数据的时间信息标记到所述故障数据中。

优选的，所述分析子单元还用于：通过所述通信单元从所述控制器中获取产生所述故障数据的时间信息。

优选的，所述通信单元包括以太网接口，所述以太网接口用于：在所述通信单元的控制下将所述故障数据传输至所述控制器中。

优选的，所述通信单元还包括USB接口，所述USB接口用于：供当前插接的U盘实现所述存储单元对应数据的输入操作及输出操作。

优选的，所述通信单元还包括串口Uart接口，所述串口Uart接口用于：供对所述存储单元中相应数据进行实时打印，以及供外部设备输入实现信号测试分析所需的配置信息。

优选的，所述主控单元采用MCU，且利用所述MCU中的ADC实现模拟信号至数字信号的转换。

优选的，所述存储单元采用Flash。

一种信号测试分析方法，包括：

对故障事件对应的多路信号进行采集；