[发明专利]一种笔画擦除方法、装置、可读存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 202111168375.5 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113608646B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 廖林涛;朱增 申请(专利权)人: 广州文石信息科技有限公司
主分类号: G06F3/0481 分类号: G06F3/0481;G06F9/451
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘思言
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 笔画 擦除 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种笔画擦除方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取笔画轨迹和擦除轨迹,根据所述笔画轨迹确定的笔画区域和所述擦除轨迹确定的擦除区域确定待擦除笔画;

利用映射表将所述待擦除笔画分成若干个待擦除笔画集合,所述映射表的键为待擦除笔画轨迹点的哈希值,所述映射表的值为与键对应的待擦除笔画集合,所述映射表的键中的哈希值为与键对应的待擦除笔画集合中笔画轨迹相交的轨迹点的哈希值;

利用映射表将所述待擦除笔画分成若干个待擦除笔画集合具体包括:

将哈希值相同的待擦除笔画轨迹点所在的待擦除笔画放在同一个待擦除笔画集合中,同一个待擦除笔画集合内的待擦除笔画在具有相同哈希值的待擦除笔画轨迹点处叠加;

依次遍历所述映射表的键,判断所述擦除轨迹与当前键对应的待擦除笔画集合是否相交,若相交,将当前键对应的待擦除笔画集合中的所有笔画标记为相交笔画;

移除所有的所述相交笔画。

2.根据权利要求1所述的笔画擦除方法,其特征在于,判断所述擦除轨迹与当前键对应的待擦除笔画集合是否相交包括:

获取擦除轨迹上的点并计算擦除轨迹点的哈希值,当所述擦除轨迹点的哈希值等于当前键或者所述擦除轨迹点与当前键对应矩形块中点的距离不大于预设阈值时,则所述擦除轨迹与当前键对应的待擦除笔画集合相交;

否则,重复执行获取擦除轨迹上的点并计算擦除轨迹点的哈希值的步骤直至最后一个擦除轨迹点,若最后一个擦除轨迹点的哈希值不等于当前键而且最后一个擦除轨迹点与当前键对应矩形块中点的距离大于预设阈值,则所述擦除轨迹与当前键对应的待擦除笔画集合不相交。

3.根据权利要求1或2所述的笔画擦除方法,其特征在于,所述待擦除笔画轨迹点的哈希值为:

hash=floor(floor(x/blockSize1) * maxXY + y/blockSize2);

其中,hash为待擦除笔画轨迹点的哈希值,floor为向下取整函数,x、y分别为待擦除笔画轨迹点的横坐标和纵坐标,blockSize1、blockSize2分别为每块矩形画布的宽和高,maxXY为画布宽高的最大值。

4.根据权利要求2所述的笔画擦除方法,其特征在于,所述当前键对应矩形块中点为:

x7=x5 + floor(blockSize1/2),

y7=y5 + floor(blockSize2/2);

其中,x7、y7分别为当前键对应块中点的横坐标和纵坐标, x5、y5分别为当前键对应矩形块的左上点的横坐标和纵坐标,x5=(floor(hashCode/maxXY))*blockSize1,

y5=(hashCode mod maxXY)*blockSize2,blockSize1、blockSize2分别为每块矩形画布的宽和高,hashCode为当前键,floor为向下取整函数,mod为取余数,maxXY为画布宽高的最大值。

5.一种笔画擦除装置,其特征在于,包括:

待擦除笔画确定模块,用于获取笔画轨迹和擦除轨迹,根据所述笔画轨迹确定的笔画区域和所述擦除轨迹确定的擦除区域确定待擦除笔画;

待擦除笔画分组模块,用于利用映射表将所述待擦除笔画分成若干个待擦除笔画集合,所述映射表的键为待擦除笔画轨迹点的哈希值,所述映射表的值为与键对应的待擦除笔画集合,所述映射表的键中的哈希值为与键对应的待擦除笔画集合中笔画轨迹相交的轨迹点的哈希值;

待擦除笔画分组模块利用映射表将所述待擦除笔画分成若干个待擦除笔画集合具体包括:

待擦除笔画分组模块将哈希值相同的待擦除笔画轨迹点所在的待擦除笔画放在同一个待擦除笔画集合中,同一个待擦除笔画集合内的待擦除笔画在具有相同哈希值的待擦除笔画轨迹点处叠加;

相交笔画确定模块,用于依次遍历所述映射表的键,判断所述擦除轨迹与当前键对应的待擦除笔画集合是否相交,若相交,将当前键对应的待擦除笔画集合中的所有笔画标记为相交笔画;

相交笔画移除模块,用于移除所有的所述相交笔画。

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