[发明专利]一种测试插座用探针

说明书

本发明公开了一种测试插座用探针，包括：导电胶结构，其包括弹性绝缘件、及设置在所述弹性绝缘件中且沿厚度方向布置的若干个连接线结构；刚性绝缘件，其固定在所述导电胶结构厚度方向一端；及探针头结构，其包括固定在所述刚性绝缘件上且与所述若干个连接线结构对应贴合的若干个探针头；在测试状态下，当所述导电胶结构受力压缩时，所述连接线结构被压缩成锯齿状通路。本发明提供的测试插座用探针，满足高频高速测试需求，同时可提高使用寿命。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种测试插座用探针。

背景技术

芯片测试插座，常用QFN、BGA、LGA等封装芯片的测试，而测试插座中测试连接的探针通常为弹簧针、导电胶为主。由于弹簧针内部类线圈结构的影响，针对高频高速测试，会引入较大的寄生回路电感，并导致测试衰减大。导电胶的整体电气长度很短，引入寄生参数小，能有效避免信号完整性问题。但导电胶测试时，采用面接触，需施加较大的力，使得导电胶内部的金属颗粒紧密连接形成测试通路。导电胶的硅橡胶介质在长时间重复性的测试条件下，产生不可逆的形变甚至报废，因而导致导电胶的使用寿命大大降低。同样地，测试小引脚间距芯片时，必然导致各测试路径间距较近，导电胶金属颗粒在受力压缩时导致测试路径之间的肉厚变薄，甚至发生破损和短路的问题。

发明内容

本发明目的是提供一种测试插座用探针，满足高速信号测试需求，提高使用寿命。

基于上述问题，本发明提供的技术方案是：

一种测试插座用探针，包括：

导电胶结构，其包括弹性绝缘件、及设置在所述弹性绝缘件中且沿厚度方向布置的若干个连接线结构；

刚性绝缘件，其固定在所述导电胶结构厚度方向一端；及

探针头结构，其包括设置在所述刚性绝缘件上且与所述若干个连接线结构对应贴合的若干个探针头；

在测试状态下，当所述导电胶结构受力压缩时，所述连接线结构被压缩成锯齿状通路。

在其中的一些实施方式中，所述连接线结构包括沿所述弹性绝缘件厚度方向布置的柱状通道、填充在所述柱状通道内的若干个导电颗粒、及固定在所述柱状通道周向上的至少一个刚性绝缘限位套。

在其中的一些实施方式中，相邻的柱状通道处的刚性绝缘限位套交错布置。

在其中的一些实施方式中，所述刚性绝缘限位套采用工程塑料制成。

在其中的一些实施方式中，所述探针头包括基座、及固定在所述基座上端的针端部，所述基座的外径大于所述针端部。

在其中的一些实施方式中，所述刚性绝缘件上设有与所述探针头匹配的限位穿槽，所述限位穿槽包括上下连通的第一槽部和第二槽部，所述第一槽部的内径小于所述第二槽部，且所述第一槽部与所述第二槽部之间形成与所述基座匹配的限位台。

在其中的一些实施方式中，所述探针头与所述限位穿槽间隙配合。

在其中的一些实施方式中，在测试状态下，所述锯齿状通路的长度不超过1mm。

在其中的一些实施方式中，所述弹性绝缘件为硅橡胶件，所述刚性绝缘件为工程塑料件。

在其中的一些实施方式中，所述刚性绝缘件粘接在所述弹性绝缘件上，且所述刚性绝缘件与所述弹性绝缘件贴合的端面的粗糙度为N10级以上。

与现有技术相比，本发明的优点是：

1、采用本发明的技术方案，通过探针头结构与导电胶结构组合，测试时不需要使用较大的力，提高探针结构的使用寿命；