[发明专利]一种耐高压SiC PIN二极管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111169987.6 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113921593A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 张瑜洁;施广彦;李佳帅;李志君;黄波 申请(专利权)人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/16;H01L29/868;H01L21/329
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 王牌
地址: 100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 高压 sic pin 二极管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种耐高压SiC PIN二极管,其特征在于:包括:

一N型欧姆电极;

一N型重掺杂半导体传输层,所述N型重掺杂半导体传输层的下侧面连接至所述N型欧姆电极的上侧面;

一N型本征层,所述N型本征层的下侧面连接至所述N型重掺杂半导体传输层的上侧面;

一耐压提高层,所述耐压提高层的下侧面连接至所述N型本征层的上侧面,所述耐压提高层的材料为金刚石或二氧化硅;

一P型重掺杂半导体传输层,所述P型重掺杂半导体传输层下侧面连接至所述耐压提高层的上侧面;

以及,一P型欧姆电极,所述P型欧姆电极的下侧面连接至所述P型重掺杂半导体传输层的上侧面。

2.一种耐高压SiC PIN二极管的制造方法,其特征在于:包括:

步骤1、将SiC外延晶片进行处理,除去表面异物,形成衬底;

步骤2、在所述衬底表面上外延生长N型重掺杂半导体传输层;

步骤3、在所述N型重掺杂半导体传输层外延生长N型本征层;

步骤4、在所述N型SiC本征层上外延生长耐压提高层;

步骤5、在所述耐压提高层上外延生长P型重掺杂半导体传输层;

步骤6、通过衬底去除工艺去除按照以上步骤所得的衬底;

步骤7、在N型重掺杂半导体传输层上蒸镀并光刻制作出N型欧姆电极,再在P型重掺杂半导体传输层上蒸镀并光刻制作出P型欧姆电极。

3.如权利要求1所述的一种耐高压SiC PIN二极管的制造方法,其特征在于:所述耐压提高层为耐高压材料,且所述耐高压材料与SiC兼容。

4.如权利要求1所述的一种耐高压SiC PIN二极管的制造方法,其特征在于:所述步骤1进一步具体为:用去离子水冲洗SiC外延晶片表面,然后置于加热的混合洗液中浸泡1分钟,进一步去除SiC外延晶片表面的异物,形成衬底;所述混合洗液包括氨水、双氧水以及去离子水。

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