[发明专利]一种分子筛衰减性能测试设备

说明书

本发明公开了一种分子筛衰减性能测试设备，包括引气处理系统、衰减系统、性能测试系统和测控系统；所述引气处理系统用于提供保证引气洁净度，控制引气压力、温度。所述衰减系统用于控制引气湿度。所述性能测试系统用于进行分子筛材料衰减和产品气检测。所述测控系统，用于对所述分子筛衰减性能测试设备提供传感器参数监测和控制器上位控制，为分子筛衰减性能测试试验提供软件平台。本申请可以对分子筛衰减性能进行测试，有利于对分子筛衰减状况下的工作状况进行试验研究，有利于衰减状况下分子筛的设计和研制。

技术领域

本发明涉及一种衰减条件下的分子筛性能测试设备。

背景技术

在航空领域，飞机环控系统压缩空气源来自发动机引气，发动机引气不仅高温、高压，而且可能含有水蒸气。湿空气进入分子筛，水分子被分子筛材料吸附，导致分子筛性能衰减。对分子筛性能衰减程度进行测试，需要在地面环境实验中模拟高温高压高湿的发动机引气，模拟分子筛床单元，对模拟筛床产品气进行参数测量。目前缺乏专用的分子筛衰减性能测试设备，无法对分子筛衰减性能进行系统性测试和研究。

发明内容

本发明实施例提供了一种分子筛衰减性能测试设备，用于满足分子筛衰减性能测试。

本发明实施例是这样实现的，本发明实施例提供了一种分子筛衰减性能测试设备，包括引气处理系统、衰减系统、性能测试系统和测控系统，其中，

所述衰减系统与所述性能测试系统连接，用于控制引气湿度，在满足试验压力和试验温度下提供符合试验要求的气体湿度；

所述性能测试系统，用于对分子筛材料进行衰减和对流经分子筛床产生的产品气参数进行检测，所述产品气参数包含产品气温度、产品气压力、产品气氧浓度、产品气流量；

所述测控系统，用于检测所述分子筛衰减性能测试设备中所有传感器的参数，为所述分子筛衰减性能测试设备中所有控制器提供上位控制，为分子筛衰减性能测试试验提供软件平台。

更进一步地，所述引气处理系统包含压缩空气源阀门，压缩空气过滤器，压力调节阀，引气开关阀，第一压力传感器，引气流量计，主加热器，第三温度传感器，第二压力传感器，第四温度传感器，湿度传感器，其中，

所述压缩空气源阀门第一端与压缩空气源a连接，所述压缩空气源为所述分子筛衰减性能测试设备提供压缩空气，所述压缩空气源阀门第二端与压缩空气过滤第一端连接，，所述压缩空气过滤器第二端与所述压力调节阀第一端连接，所述压力调节阀第二端与所述开关阀第一端连接，所述开关阀第二端与所述第一压力传感器第一端连接，与所述第一压力传感器第二端与所述引气流量计第一端连接，所述引气流量计第一端与所述衰减系统连接，所述主加热器第一端与所述衰减系统连接，所述主加热器第二端与所述第三温度传感器第一端连接，所述第三温度传感器第二端与所述湿度传感器第一端连接，所述湿度传感器第二端与所述第二压力传感器第一端连接，所述第二压力传感器第二端与所述第四温度传感器第一端连接，所述第四温度传感器第二端与所述性能测试系统连接。

更进一步地，所述衰减系统包含稳态加湿单元、动态加湿单元和湿度控制单元，用于控制引气湿度。

其中，所述稳态加湿单元包含稳态加湿开关阀、加湿水罐，所述加湿水罐包含水罐、水加热器、温度传感器，所述动态加湿单元包含加湿气开关阀、动态加湿开关阀、动态加湿压力调节阀、承压储水罐、喷头、喷雾段，所述湿度控制单元包含预加热器、温度检测控制仪表、三通调节阀。所述三通开关阀的第一端与所述引气处理单元连接，第二端与所述主加热器的第一端连接，第三端与预加热器的第一端连接，预加热器的第二端与第一温度传感器的第一端连接，第一温度传感器的第二端分别与稳态加湿开关阀和动态加湿开关阀连接，所述稳态加湿开关阀的第二端与所述水罐的第一端连接，所述水罐的第二端与所述主加热器的第一端连接，所述动态加湿开关阀的第二端与所述喷雾段的第一端连接；所述喷雾段，用于所述喷头喷雾与干压缩空气混合加湿；所述喷雾段的第二端与所述主加热器的第一端连接。