[发明专利]小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法

说明书

本发明涉及一种小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法，该装置包括：平行光管、固定模块、经纬仪、红外成像模块和数据处理模块；平行光管用于提供红外平行光，且配有靶标；固定模块用于设置待测试的光学系统；经纬仪用于校准平行光管与光学系统同轴；红外成像模块用于在光学系统的光学焦面位置处采集靶标的红外图像；数据处理模块用于根据红外成像模块采集的红外图像、靶标的尺寸以及平行光管的焦距，计算光学系统的焦距。本发明在使用尽可能少且基础的仪器设备条件下，较高精度地完成光学指标的测试。

技术领域

本发明涉及红外光学技术领域，尤其涉及一种小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法。

背景技术

区别于透射式光学系统，红外共孔径折返式光学系统往往光路复杂，特别是小空间高集成度的中长波红外共孔径折返式光学系统，在相关指标测试过程中，受到光学系统空间尺寸等条件的约束，常用的测试仪器无法与系统适配，难以完成相关测试。因此，针对以上不足，需要提供一种适合小空间高集成度红外共孔径折返式光学系统的指标测试技术。

发明内容

本发明的目的是针对上述至少一部分不足之处，提供一种适合小空间高集成度红外共孔径折返式光学系统的指标测试装置及方法。

为了实现上述目的，本发明提供了一种小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置，包括：

平行光管，用于提供红外平行光，且配有靶标；

固定模块，用于设置待测试的光学系统；

经纬仪，用于校准所述平行光管与所述光学系统同轴；

红外成像模块，用于在所述光学系统的光学焦面位置处采集所述靶标的红外图像；

数据处理模块，用于根据所述红外成像模块采集的红外图像、所述靶标的尺寸以及所述平行光管的焦距，计算所述光学系统的焦距。

可选地，所述的小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置，还包括二维转台；

所述二维转台用于承载所述固定模块，以便调控所述光学系统的位置，并测量自身的角度信息；

所述数据处理模块还用于根据所述光学系统在不同位置处所述红外成像模块采集的红外图像，计算所述光学系统的视场。

可选地，所述靶标为圆形或十字形。

可选地，所述红外成像模块为红外成像机芯，所述红外成像机芯与工控机连接。

可选地，所述固定模块包括固定工装和修切架。

本发明还提供了一种小空间高集成度红外共孔径光学系统测试方法，采用如上述任一项所述的小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置实现，包括如下步骤：

设置所述的小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置与待测试的光学系统，利用经纬仪校准平行光管与所述光学系统同轴；

移动红外成像模块至光学系统的光学焦面位置处，在所述平行光管处设置靶标，通过所述红外成像模块采集所述靶标的红外图像；

根据所述红外成像模块采集的红外图像进行识别，确定所述靶标所成的像的尺寸，结合所述靶标的尺寸以及所述平行光管的焦距，计算所述光学系统的焦距。

可选地，所述利用经纬仪校准平行光管与光学系统同轴，包括：

先调整所述经纬仪与所述平行光管同轴；

再调整所述固定模块，令所述光学系统与所述经纬仪同轴。

可选地，所述移动红外成像模块至光学系统的光学焦面位置处，包括：

移动所述红外成像模块，并采集相应的红外图像；