[发明专利]一种材料参数的提取方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种材料参数的提取方法，其特征在于，包括：

将电磁波射入待提取目标参数的目标材料，得到所述目标材料对所述电磁波的响应数据信息，所述电磁波射入所述目标材料的入射方向所对应的方向数量与所述目标参数所对应的数量相匹配，各个所述入射方向相异；

获取响应参数与所述目标参数构成的函数关系式，所述响应参数与所述响应数据信息所对应；

依据所述响应数据信息对所述函数关系式进行求解，得到所述目标参数所对应的目标数据；

所述将电磁波射入待提取目标参数的目标材料，得到所述目标材料对所述电磁波的响应数据信息，所述电磁波射入所述目标材料的入射方向所对应的方向数量与所述目标参数所对应的数量相匹配，各个所述入射方向相异，包括：

依据所述目标材料，得到所述目标材料所对应的形状；

依据所述形状，得到所述目标材料所对应的几何结构对称性信息；

依据所述几何结构对称性信息，得到所述目标材料所对应的对称侧面；

依据所述对称侧面，得到所述电磁波在所述对称侧面上的各个所述入射方向相异；

或者，所述将电磁波射入待提取目标参数的目标材料，得到所述目标材料对所述电磁波的响应数据信息，所述电磁波射入所述目标材料的入射方向所对应的方向数量与所述目标参数所对应的数量相匹配，各个所述入射方向相异，包括：

将所述电磁波沿同一所述入射方向从目标材料的两侧射入所述目标材料，得到所述响应数据信息中的正向响应数据和反向响应数据，所述正向响应数据对应所述电磁波从所述目标材料的一侧入射产生的响应数据，所述反向响应数据对应所述电磁波从所述目标材料的另一侧入射产生的响应数据。

2.如权利要求1所述的材料参数的提取方法，其特征在于,所述将所述电磁波沿同一所述入射方向从目标材料的两侧射入所述目标材料，得到所述响应数据信息中的正向响应数据和反向响应数据，所述正向响应数据对应所述电磁波从所述目标材料的一侧入射产生的响应数据，所述反向响应数据对应所述电磁波从所述目标材料的另一侧入射产生的响应数据，包括：

依据所述电磁波，得到所述电磁波中的TE波和TM波，TE波为电场方向与传播面垂直的电磁波，TM波为磁场方向与传播面垂直的电磁波，并将TE波和TM波记为成对极化波；

将所述成对极化波沿同一所述入射方向分别从所述目标材料的两侧射入所述目标材料，得到所述正向响应数据中的所述目标材料对所述TE波的正向TE反射数据和对所述TM波的正向TM透射数据、所述反向响应数据中的所述目标材料对所述TE波的反向TE反射数据和对所述TM波的反向TM透射数据。

3.如权利要求2所述的材料参数的提取方法，其特征在于，所述获取响应参数与所述目标参数构成的函数关系式，所述响应参数与所述响应数据信息所对应，包括：

依据所述响应参数，得到所述响应参数中的正向TE反射参数、正向TM透射参数、反向TE反射参数、反向TM透射参数，所述正向TE反射参数与所述TE波从所述目标材料的一侧入射被所述目标材料反射所对应，所述正向TM透射参数与所述TM波从所述目标材料的一侧入射被所述目标材料透射所对应，所述反向TE反射参数与所述TE波从所述目标材料的另一侧入射被所述目标材料反射所对应，所述反向TM透射参数与所述TM波从所述目标材料的另一侧入射被所述目标材料透射所对应；

依据所述正向TE反射参数、所述正向TM透射参数、反向TE反射参数、反向TM透射参数、所述目标参数，得到所述函数关系式。

4.如权利要求3所述的材料参数的提取方法，其特征在于，所述依据所述正向TE反射参数、所述正向TM透射参数、反向TE反射参数、反向TM透射参数、所述目标参数，得到所述函数关系式，包括：

获取所述TE波和所述TM波在空气介质中的特征矩阵，所述目标材料的两侧为所述空气介质；

依据所述正向TE反射参数、所述正向TM透射参数、反向TE反射参数、反向TM透射参数、所述特征矩阵，得到传导矩阵；

依据所述传导矩阵和所述目标参数，得到所述函数关系式。