[发明专利]一种检测盲孔的方法及设备在审
申请号: | 202111186435.6 | 申请日: | 2021-10-12 |
公开(公告)号: | CN113870242A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 席东宇;刘旭亮;翟健;骆元泽 | 申请(专利权)人: | 京东方(河北)移动显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/155;G06T7/62 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 金俊姬 |
地址: | 065500 河北省廊坊*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 方法 设备 | ||
本发明公开了一种检测盲孔的方法及设备,利用图像处理的方式自动进行盲孔检测,提高盲孔检测的效率和准确度,降低人力成本。该方法包括:获取包含盲孔的原始图像;对所述原始图像的灰度图进行第一双阈值处理,得到包含所述盲孔的轮廓曲线的轮廓二值图像;根据所述轮廓二值图像中轮廓曲线的圆度,确定所述原始图像中盲孔的圆度是否符合与所述盲孔的型号对应的圆度基准。
技术领域
本发明涉及终端模组制程技术领域,特别涉及一种检测盲孔的方法及设备。
背景技术
终端模组前置摄像头盲孔(以下简称“盲孔”)制程过程中,无法避免会涉及到盲孔在制程工艺过程中产生制程不良的现象,其中制程不良的盲孔包括外观可见的孔脏污、孔异物、孔不圆等缺陷。
现阶段各屏幕模组生产工厂、屏幕模组组装工厂均依据自身检讨的检查环境和手法,通过人工检查方式对盲孔进行外观检查,容易存在明显的检查及判定的差异。同时,人工检查的方式,难以把握对于孔相关程度类不良检查的判定基准,难以精准描述盲孔不良现象,难以针对不良盲孔进行有效拦截。
发明内容
本发明提供一种检测盲孔的方法及设备,利用图像处理的方式自动进行盲孔检测,提高盲孔检测的效率和准确度,降低人力成本。
第一方面,本发明实施例提供的一种检测盲孔的方法,包括:
获取包含盲孔的原始图像;
对所述原始图像的灰度图进行第一双阈值处理,得到包含所述盲孔的轮廓曲线的轮廓二值图像;
根据所述轮廓二值图像中轮廓曲线的圆度,确定所述原始图像中盲孔的圆度是否符合与所述盲孔的型号对应的圆度基准。
本实施例通过图像处理的方式确定盲孔的圆度是否符合对应摄像头(即盲孔)型号的圆度基准,相对于人工检查的方式,能够有效提高不良盲孔的检测效率,提高不良盲孔的检测精度,能够满足量产要求。
作为一种可选的实施方式,所述对所述原始图像的灰度图进行第一双阈值处理,得到所述原始图像的轮廓二值图像之后,根据所述轮廓二值图像中轮廓曲线的圆度,确定所述原始图像中盲孔的圆度是否符合与所述盲孔的型号对应的圆度基准之前,该方法还包括:
对所述轮廓二值图像进行形态学变换开运算,得到所述形态学变换开运算处理后的轮廓二值图像。
作为一种可选的实施方式,通过如下方式确定所述轮廓二值图像中的轮廓曲线的圆度:
根据所述轮廓曲线形成的封闭区域的面积和周长,确定所述轮廓曲线的圆度;或者,
根据所述轮廓曲线形成的封闭区域的最小内接圆或最小外接圆的圆心,与所述轮廓曲线上的各个像素点之间的距离,确定所述轮廓曲线的圆度。
作为一种可选的实施方式,所述确定所述原始图像中盲孔的圆度是否符合与所述盲孔的型号对应的圆度基准,包括:
确定所述轮廓曲线形成的封闭区域的最小内接圆的圆心,与所述轮廓曲线上的各个像素点之间的距离;
若不满足距离基准的所述距离对应的像素点的数量大于数量基准,则确定所述轮廓曲线的圆度不符合所述圆度基准;
若不满足距离基准的所述距离对应的像素点的数量不大于数量基准,则确定所述轮廓曲线的圆度符合所述圆度基准。
作为一种可选的实施方式,所述根据所述轮廓曲线形成的封闭区域的面积和周长,确定所述轮廓曲线的圆度,包括:
通过如下公式确定所述轮廓曲线的圆度:
其中,R表示所述轮廓曲线的圆度,C表示所述封闭区域的周长,S表示所述封闭区域的面积。
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