[发明专利]一种光电探测器参数测试用多通道对光装置

说明书

本发明公开了一种光电探测器参数测试用多通道对光装置，包括相对设置的对光机构和定位机构以及设置在所述定位机构上的信号传输机构，所述对光机构可调节设置在所述定位机构的上方，所述对光机构包括一对光承接架以及多个阵列分布在所述对光承接架上的对光单元，待测试的光电探测器定位在所述定位机构上且对应于所述对光单元下方的位置处，以实现对所述光电探测器进行参数测试；整个过程无需将装置移至实验箱外即可实现多通道的同时对光，测试结果高效且可靠。

技术领域

本发明涉及光电探测器对光技术领域，特别是涉及一种光电探测器参数测试用多通道对光装置。

背景技术

光电探测器类产品广泛应用于激光雷达、激光测距、光学传感、光纤通信、物质光学监测仪、物质吸收光谱测试、物质荧光检测、光功率计、光电测试和工业自动控制等军民领域。光电探测器按照收光方式主要分为光纤型探测器和光窗型探测器。光窗型探测器是一种接收空间光的产品，其使用环境复杂，对光线入射角度，接收波长范围，光功率大小范围、光信号特征参数和环境温湿度等都有严格的要求，因此在产品测量时需要给定特征参数的特殊的光信号作为测试条件，并在高低温下进行光电参数测试，以评价光电探测器在极端环境下的性能表现。

目前，进行光电参数测试的做法通常为：一是需要在高低温试验箱狭小的空间内对产品施加光信号，可以通过调节微动台或者步进电机调芯对准的方式进行加光，此类装置一来体积较大且位移行程有限，无法满足产品批产测试效率的要求；二来其放入高低温箱内进行测试需要反复升温降温，其自身可靠性难以保证。二是在进行产品高低温测试时将其拿到箱外进行加光测试，这种方法虽然避免了光信号施加困难的问题，但拿出温箱后产品由于温度的变化无法达到在给定温度下在线测试的要求，测试方法不规范，导致测试结果不可靠。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光电探测器参数测试用多通道对光装置，以解决现有技术中无法批量测试以及在在线测试结果可靠性差的问题。

为解决上述问题，本发明提供一种光电探测器参数测试用多通道对光装置，包括相对设置的对光机构和定位机构以及设置在所述定位机构上的信号传输机构，所述对光机构可调节设置在所述定位机构的上方，所述对光机构包括一对光承接架以及多个阵列分布在所述对光承接架上的对光单元，待测试的光电探测器定位在所述定位机构上且对应于所述对光单元下方的位置处，以实现对所述光电探测器进行参数测试；所述光电探测器与所述信号传输机构电连接，以将对光测试信号向外传输。

进一步的，所述对光承接架上对应所述对光单元的位置处设有上下贯通的对光安装孔，所述对光安装孔的内壁上设有内螺纹，所述对光单元的外壁上设有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述对光单元通过所述外螺纹和内螺纹的配合可拆卸安装在所述对光安装孔内。

进一步的，所述对光单元包括一直径较小的光纤接口以及一直径较大且一体成型在所述光纤接口底部的连接部，所述光纤接口外接光纤分路器的出光端，所述外螺纹沿所述连接部周向螺旋式分布于所述连接部的外壁上，所述连接部与所述光电探测器相对实现光信号传输。

进一步的，所述连接部上形成有一开口朝下且与所述光纤接口连通的定位槽，所述定位槽的内径大于所述光电探测器的直径，在线测试时，所述光电探测器定位于所述定位槽内。

进一步的，所述定位机构包括与所述对光承接架相对设置的安装板以及与所述对光单元一一对应地分布在所述安装板上方的定位座，所述信号传输机构设置于所述安装板上且与插设在所述定位座上的光电探测器电连接。

进一步的，所述安装板朝向所述对光承接架的一面设有一安装槽，所述信号传输机构包括一可拆卸地设置于所述安装槽中的测试电路板以及与所述测试电路板电连接的插线连接座，所述插线连接座外接测试线，所述定位座与所述对光承接架上的对光单元一一对应地分布于所述测试电路板上。