[发明专利]显示屏缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种显示屏缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取第一图像信息；其中，所述第一图像信息由相机在第一光源提供的第一暗场照明下生成，所述第一图像信息包含所述显示屏的暗场全局状态信息，所述第一光源的光轴与所述显示屏具有第一夹角；

获取第二图像信息；其中，所述第二图像信息由所述相机在第二光源提供的第二暗场照明下生成，所述第二图像信息包含所述显示屏的附着异物信息，所述第二光源的光轴与所述显示屏具有第二夹角，所述第二夹角小于所述第一夹角；

在所述第一图像信息中滤除所述第二图像信息的所有特征，并生成输出图像信息；其中，所述输出图像信息包含所述显示屏的暗场全局缺陷信息，所述暗场全局缺陷信息不包括所述附着异物信息。

2.根据权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收所述输出图像信息；

将所述输出图像信息与预设的缺陷特征集进行比对判断；

输出判断结果。

3.根据权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述相机配置为线阵相机，所述方法还包括：

输出光源控制信号，以预设频率控制光源组件中多个光源交替触发；其中，所述光源组件包括所述第一光源和所述第二光源；

输出相机控制信号，以所述预设频率控制所述相机触发，生成并输出原始图像；

在所述原始图像中，分别获取所述第一图像信息和所述第二图像信息。

4.根据权利要求3所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据预设条件识别所述原始图像中的感兴趣区域；其中，所述感兴趣区域包含所述显示屏的至少一种信息；

对所述感兴趣区域执行逐行抽取，得到表征所述第一暗场照明情况的至少一条行图像信息，以及表征所述第二暗场照明情况的至少一条行图像信息；

将所有表征所述第一暗场照明情况的行图像信息组合，生成所述第一图像信息；

将所有表征所述第二暗场照明情况的行图像信息组合，生成所述第二图像信息。

5.根据权利要求4所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：

输出光源控制信号，以所述预设频率控制所述第一光源、所述第二光源和第三光源交替触发；其中，所述第三光源用于提供明场照明；

所述方法具体包括：

对所述感兴趣区域执行逐行抽取，得到表征所述第一暗场照明情况的至少一条行图像信息、表征所述第二暗场照明情况的至少一条行图像信息，以及表征所述明场照明情况的至少一条行图像信息；

所述方法还包括：

将所有表征所述明场照明情况的行图像信息组合，生成第三图像信息；其中，所述第三图像信息包含所述显示屏的明场全局状态信息。

6.一种显示屏缺陷检测系统，用于对待测显示屏(300)表面进行缺陷检测，其特征在于，包括载物平面(200)和检测装置(100)，所述检测装置(100)包括控制装置(4)，以及与所述控制装置(4)分别连接的相机(50)、第一光源(51)和第二光源(52)；

所述第一光源(51)的光轴与所述显示屏(300)具有第一夹角(61)，所述第二光源(52)的光轴与所述显示屏(300)具有第二夹角(62)，所述第二夹角(62)小于所述第一夹角(61)；

所述相机(50)用于获取第一图像信息和第二图像信息；所述第一光源(51)和所述第二光源(52)分别用于提供第一暗场照明和第二暗场照明；所述控制装置(4)用于触发所述相机(50)、所述第一光源(51)和所述第二光源(52)，在所述第一图像信息中滤除所述第二图像信息的所有特征，并生成输出图像信息；其中，所述第一图像信息包含所述显示屏的暗场全局状态信息，所述第二图像信息包含所述显示屏的附着异物信息，所述输出图像信息包含所述显示屏的暗场全局缺陷信息，所述暗场全局缺陷信息不包括所述附着异物信息。