[发明专利]一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号测试方法在审
申请号: | 202111188148.9 | 申请日: | 2021-10-12 |
公开(公告)号: | CN113917513A | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 李豫东;刘炳凯;文林;周东;冯婕;郭旗 | 申请(专利权)人: | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
主分类号: | G01T1/02 | 分类号: | G01T1/02;G01T1/185 |
代理公司: | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 | 代理人: | 张莉 |
地址: | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 电离 剂量 辐照 光电 成像 器件 随机 电报 信号 测试 方法 | ||
1.一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号测试方法,其特征在于该方法涉及装置是由暗室(1)和样品测试板(2)两大部分组成,在样品测试板(2)上分别设置有电压调节模块(3)、遮光盖(4)、样品锁紧座(5)、传感器供电模块(6)、传感器偏置模块(7)、现场可编程门阵列(8)和供电端口(9),电源(10)与供电端口(9)连接,样品锁紧座(5)分别与传感器供电模块(6)、传感器偏置模块(7)和现场可编程门阵列(8)连接,现场可编程门阵列(8)与计算机(11)连接,具体操作按下列步骤进行:
a、将样品测试板(2)置于暗室(1)内,将测试样品辐照后的CMOS图像传感器固定在样品锁紧座(5)上,盖上遮光盖(4),接通电源(10),给样品测试板(2)供电,传感器供电模块(6)和传感器偏置模块(7)提供测试样品所需的静态偏置,现场可编程门阵列(8)通过计算机(11)向测试样品提供动态时序,测试样品采集的图像数据通过现场可编程门阵列(8)传输至计算机(11);
b、调节暗室(1)环境温度,将固定在样品锁紧座(5)的测试样品辐照后的CMOS图像传感器在该温度下静置30min,使测试样品温度与暗室(1)环境温度一致,整个测试过程中暗室(1)环境温度波动范围为±1℃;
c、使用计算机软件计算不同传输栅压下平均暗电流值,根据计算结果,调节样品测试板(2)的电压调节模块(3),设置测试样品的传输栅电压;
d、使用计算机软件计算不同积分时间下随机电报信号跳变幅度,根据计算结果,设置计算机(11)采图软件相关参数确定测试样品的积分时间和采图频率;
e、使用计算机软件计算不同采图时长下随机电报信号检测结果,根据计算结果,设置计算机(11)采图软件相关参数确定连续采图时间和采集图像的数目;
f、设置计算机(11)采图软件的窗口大小,使用计算机软件计算不同窗口大小下试验数据量,确定测试样品输出图像的大小;
g、开始随机电报信号测试,测试结束后,使用计算机数据处理软件处理试验数据,获得随机电报信号的测试结果。
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