[发明专利]非易失性存储器辐射效应测试方法、装置和计算机设备

说明书

本申请涉及一种非易失性存储器辐射效应测试方法、装置、计算机设备和存储介质，应用于内置非易失性存储器的存储芯片，该方法包括：对被测芯片进行工作模式配置和初始数据写入操作，以使被测芯片中的易失性存储器写入初始数据；控制被测芯片断电，等待预设时长，以使初始数据从非易失性存储器自动写入非易失性存储器；控制辐照装置以预设辐照参数，辐照非易失性存储器；控制被测芯片上电，等待设定时间，以使易失性存储器从非易失性存储器中读出反馈数据；获取反馈数据，并根据反馈数据和初始数据，得到辐射效应测试结果并输出。上述非易失性存储器辐射效应测试方法，无需直接访问非易失性存储器，有利于扩展存储器辐射效应测试方法的应用场景。

技术领域

本申请涉及电子器件可靠性测试技术领域，特别是涉及一种非易失性存储器辐射效应测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

存储器是航天电子系统中的重要组成部件，担负着空间飞行器正常工作所需要的指令、代码及状态参数等各类数据的存储任务。空间飞行器上的存储器，运行于恶劣天然辐射环境中，因辐射引起的单粒子效应(Single Event Effects，SEE)和电离总剂量效应(Total Ionizing Dose，TID)，都将影响存储器的性能，进而威胁空间飞行器的安全运行。因此，有必要对存储器的辐射效应进行测试，以确定其抗辐射性能，为后续的抗辐射防护设计提供依据。

传统的存储器辐射效应测试方法，通常直接访问被测存储器，通过辐射前后被测存储器的存储数据变化，确定其抗辐射性能。然而，针对内置非易失性存储器的存储芯片，在对其内置的非易失性存储器进行辐射效应测试时，由于非易失性存储器不可直接访问，传统的存储器辐射效应测试方法并不适用。

因此，传统的存储器辐射效应测试方法，具有应用场景受限的缺点。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种非易失性存储器辐射效应测试方法、装置、计算机设备和存储介质，扩展存储器辐射效应测试方法的应用场景。

一种非易失性存储器辐射效应测试方法，应用于内置非易失性存储器的存储芯片，所述方法包括：

对被测芯片进行工作模式配置和初始数据写入操作，以使所述被测芯片中的易失性存储器写入初始数据；

控制所述被测芯片断电，并等待预设时长，以使所述初始数据从所述易失性存储器自动写入非易失性存储器；

控制辐照装置以预设辐照参数，辐照所述非易失性存储器；

控制所述被测芯片上电，并等待设定时间，以使所述易失性存储器从所述非易失性存储器中读出反馈数据；

获取所述反馈数据，并根据所述反馈数据和所述初始数据，得到辐射效应测试结果并输出。

在其中一个实施例中，所述控制辐照装置以预设辐照参数，辐照所述非易失性存储器之前，还包括：

确定预设辐照参数。

在其中一个实施例中，所述确定预设辐照参数，包括：

控制辐照装置以初始辐照参数辐照非易失性存储器，并采集所述非易失性存储器的错误速率；

根据所述错误速率和预设错误速率阈值的大小关系，并结合所述初始辐照参数，确定预设辐照参数。

在其中一个实施例中，所述辐射效应测试结果包括是否发生了单粒子翻转；所述获取所述反馈数据，并根据所述反馈数据和所述初始数据，得到辐射效应测试结果并输出之后，还包括：

若发生了单粒子翻转，进行翻转信息记录。

在其中一个实施例中，所述获取所述反馈数据，并根据所述反馈数据和所述初始数据，得到辐射效应测试结果之后，还包括：

判断是否达到测试结束条件；