[发明专利]检测方法、装置、检测设备、电子设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202111196094.0 申请日: 2021-10-14
公开(公告)号: CN113945788A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 吴继东;陈湘杰 申请(专利权)人: 深圳市杰普特光电股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/26
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张欣欣
地址: 518110 广东省深圳市龙华区观湖街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 方法 装置 设备 电子设备 可读 存储 介质
【说明书】:

发明提供的检测方法、装置、检测设备、电子设备及可读存储介质,通过确定当前被测器件是正常还是失效,进而生成不同的标识,即若当前被测器件失效,则生成失效标识,且失效标识不会被发送到图像处理系统去获取检测结果,若当前被测器件正常,则生成提取序号,进而可以根据提取序号从图像处理系统中提取检测结果,由于而每个正常的被测器件的提取序号可以组成新的连续系列,那么图像处理系统则会根据新的连续系列,提供当前被测器件提取序号绑定的检测结果,从而可以避免失效器件占用正常器件的检测结果的问题。

技术领域

本发明涉及检测技术领域,具体而言,涉及一种检测方法、装置、检测设备、电子设备及可读存储介质。

背景技术

随着半导体技术的发展,电阻、电容等基本电子元件的需求激增,与之相配套的检测设备需求量也随之增加。

目前,检测设备多采用序列法来标注被测器件DUT(Device Under Test,简称DUT),即每个DUT的序号是按照连续序列的生成,相应地检测结果也会按照序号顺序依次对应,但这种做法往往也会带来致命的缺陷:一旦检测过程存在失效DUT,由于失效DUT也占用对应的序号但实际没有检测结果,那么就会将正常DUT的检测结果对应到失效DUT上,以此类推,从而造成后续所有的DUT的检测结果都对应错误。

发明内容

本发明的目的之一在于,提供一种检测方法、装置、检测设备、电子设备及可读存储介质,用以避免失效器件占用正常器件的检测结果而造成检测结果错位的问题。

第一方面,本发明提供一种检测方法,所述方法包括:确定当前被测器件是失效还是正常;若所述当前被测器件失效,则根据所述当前被测器件的分类序号生成对应的失效标识;所述失效标识不会被发送到图像处理系统以获得检测结果;若所述当前被测器件正常,则生成所述当前被测器件的提取序号;其中,所述当前被测器件的提取序号与上一个正常的被测器件的提取序号组成连续序列;根据所述提取序号,获得所述当前被测器件的检测结果。

第二方面,本发明提供一种检测装置,包括:确定模块,用于确定当前被测器件是失效还是正常;生成模块,用于若所述当前被测器件失效,则根据所述当前被测器件的分类序号生成对应的失效标识;所述失效标识不会被发送到图像处理系统以获得检测结果;若所述当前被测器件正常,则生成所述当前被测器件的提取序号;其中,所述当前被测器件的提取序号与上一个正常的被测器件的提取序号组成连续序列,所述提取序号用于指示所述图像处理系统按照所述连续序列提供检测结果。

第三方面,本发明实施例提供一种检测设备,包括所述控制系统和图像处理系统,所述控制系统,用于确定当前被测器件是失效还是正常;若所述当前被测器件失效,则根据所述当前被测器件的分类序号生成对应的失效标识;所述失效标识不会被发送到图像处理系统以获得检测结果;若所述当前被测器件正常,则生成所述当前被测器件的提取序号;所述控制系统,还用于将所述提取序号发送给所述图像处理系统;所述图像处理系统,用于根据所述提取序号,获得所述当前被测器件的检测结果,并将所述提取序号与所述检测结果发送给所述控制系统。

第四方面,本发明实施例一种电子设备,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机程序,所述处理器可执行所述计算机程序以实现第一方面所述的检测方法。

第五方面,本发明实施例一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的检测方法。

本发明实施例提供的一种检测方法、装置、检测设备、电子设备及可读存储介质,通过确定当前被测器件是正常还是失效,进而生成不同的标识,即若当前被测器件失效,则生成失效标识,且失效标识不会被发送到图像处理系统去获取检测结果,若当前被测器件正常,则生成提取序号,该提取序号可以从图像处理系统中提取检测结果,由于而每个正常的被测器件的提取序号可以组成新的连续系列,那么图像处理系统则会根据新的连续系列,提供当前被测器件提取序号绑定的检测结果,从而可以避免失效器件占用正常器件的检测结果的问题。

附图说明

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