[发明专利]一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法

权利要求书

1.一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)完成基础度量指标的定义；

(2)完成各过程片段缺陷植入导出指标定义及性能基线的统计分析；

(3)完成缺陷检出度量指标的定义；

(4)完成缺陷植入检出矩阵状态的展示。

2.根据权利要求1所述的一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法，其特征在于，步骤(1)所述的基础度量指标包括项目规模、需求过程引入缺陷数、设计过程引入缺陷数、实现过程引入缺陷数、需求过程检出缺陷数、设计过程检出缺陷数、实现过程检出缺陷数、集成过程检出缺陷数、配置项和系统测试过程检出缺陷数、内部补差过程检出缺陷数、内部泄漏缺陷数、外部泄漏缺陷数。

3.根据权利要求1所述的一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法，其特征在于，所述步骤(2)具体为：

(2.1)对缺陷引入的过程分别定义导出指标“缺陷引入密度”，所述缺陷引入的过程具体为需求过程、设计过程、实现过程，所述导出指标具体为需求过程引入缺陷密度(个/功能点)、设计过程引入缺陷密度(个/功能点)、实现过程引入功能点(个/功能点)；

(2.2)对已经交付项目的软件，进行基础数据的统计，所述基础数据包括项目规模(功能点)、需求过程引入的缺陷数(个)、设计过程引入的缺陷数(个)、实现过程引入的缺陷数(个)；分别计算得到导出指标：

需求引入缺陷密度(个/功能点)＝需求过程引入缺陷数/项目规模

设计引入缺陷密度(个/功能点)＝设计过程引入缺陷数/项目规模

实现引入缺陷密度(个/功能点)＝实现过程引入缺陷数/项目规模

(2.3)对计算的过程引入缺陷密度导出指标，采用数值统计方法，进行基线值的统计，得到均值及标准差。

4.根据权利要求1所述的一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法，其特征在于，所述步骤(3)具体为：

(3.1)过程PCE指标的定义：

需求过程PCE＝需求过程检出缺陷数/需求过程引入缺陷数

设计过程PCE＝设计过程检出缺陷数/设计过程引入缺陷数

实现过程PCE＝实现过程检出缺陷数/实现过程引入缺陷数；

(3.2)过程DCE指标的定义：

集成过程DCE＝集成过程检出缺陷数/(集成过程检出缺陷数+测试过程检出缺陷数+内部补差过程检出缺陷数+内部泄漏缺陷数+外部泄漏缺陷数)

测试过程DCE＝测试过程检出缺陷数/(测试过程检出缺陷数+内部补差过程检出缺陷数+内部泄漏缺陷数+外部泄漏缺陷数)；

(3.3)TCE及TCE'指标定义：

TCE＝(需求过程检出缺陷数+设计过程检出缺陷数+实现过程检出缺陷数+集成过程检出缺陷数+测试过程检出缺陷数)/(需求过程检出缺陷数+设计过程检出缺陷数+实现过程检出缺陷数+集成过程检出缺陷数+测试过程检出缺陷数+内部补差过程检出缺陷数+内部泄漏缺陷数+外部泄漏缺陷数)

TCE'＝(需求过程检出缺陷数+设计过程检出缺陷数+实现过程检出缺陷数+集成过程检出缺陷数+测试过程检出缺陷数+内部补差过程检出缺陷数)/(需求过程检出缺陷数+设计过程检出缺陷数+实现过程检出缺陷数+集成过程检出缺陷数+测试过程检出缺陷数+内部补差过程检出缺陷数+内部泄漏缺陷数+外部泄漏缺陷数)。

5.根据权利要求1所述的一种表征缺陷植入及检出能力的矩阵控制方法，其特征在于，所述步骤(4)具体为：

(4.1)利用FineReport软件，完成缺陷植入检出矩阵展示样式的前台设计，并在除灰色单元格之外的位置，按照上述指标的定义，将相应的计算公式定义到单元格中；

(4.2)根据项目的估计规模，根据过程缺陷引入密度基线，完成项目预计引入缺陷数的估计；

(4.3)从缺陷统计的数据库中将缺陷记录读取出来，所述缺陷记录包括缺陷的归属项目、归属版本、引入过程、检出过程；通过单元格中定义的计算公式及过滤条件，完成缺陷实际检出个数的展示。