[发明专利]一种一维像识别中的高斯权值分布特征提取方法有效
申请号: | 202111197166.3 | 申请日: | 2021-10-14 |
公开(公告)号: | CN113960553B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 周代英 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41;G01S13/02;G06F18/241 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 一维像 识别 中的 高斯权值 分布 特征 提取 方法 | ||
1.一种一维像识别中的高斯权值分布特征提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、设n维列矢量xij为第i类已知目标的第j个训练一维距离像,1≤i≤g,1≤j≤Ni,其中,g表示类别数,Ni为第i类已知目标的训练样本数,N为训练样本总数;
S2、计算样本间的欧氏距离:
pij,rz=||xij-xrz||2
i=1,2,…g,j=1,2,…Ni
r=1,2,…g,z=1,2,…Nr
其中,pij,rz表示第i类已知目标的第j个一维距离像样本与第r类已知目标的第z个一维距离像样本之间的欧氏距离;
S3、由欧氏距离计算高斯权值wij,rz:
其中,σ2是高斯参数,由实验值确定,由高斯权值wij,rz组成样本间的高斯连接权值矩阵W:
W=[wij,rz]N×N
计算矩阵W每一行的元素和值,并构建对角矩阵D:
D=diag{dij}
其中,diag{·}表示对角矩阵;
S4、由矩阵W和D构建特征方程:
WV=DVΣ
其中,V为特征矢量组成的矩阵,Σ为特征值组成的对角矩阵,特征方程两边同时乘以得:
令
得
可知V1矩阵中的列矢量是矩阵的特征矢量;以前M个最大特征值对应的特征矢量组成变换子空间A:
使用矩阵A对一维距离像xij进行变换:
zij=ATxij
则得到的矢量zij为高斯权值分布特征。
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