[发明专利]准直装置及DOI测量的方法

权利要求书

1.一种准直装置，其特征在于，包括：

位移台，用于提供在一个或多个方向上的位移；

第一载物台，用于承载电路板、放射源和准直晶体，所述第一载物台固定于所述位移台上，所述位移台每次运动时所述放射源和所述准直晶体之间的相对位置不变。

2.根据权利要求1所述的准直装置，其特征在于，所述第一载物台包括：

电路板固定部，用于固定接收闪烁脉冲的电路板；

射源放置部，用于承载所述放射源；

准直轨道，所述电路板固定部设置于所述准直轨道的第一端，所述射源放置部设置于所述准直轨道与所述第一端相对的第二端。

3.根据权利要求2所述的准直装置，其特征在于，所述准直轨道上设置有用于承载所述准直晶体的准直槽，所述准直槽连通所述第一端和第二端。

4.根据权利要求3所述的准直装置，其特征在于，所述准直槽的深度相同。

5.根据权利要求1所述的准直装置，其特征在于，所述准直装置还包括第一连接件，所述第一载物台固定于所述第一连接件上，所述第一连接件固定于所述位移台上。

6.根据权利要求5所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件包括：

第一侧壁，固定于所述位移台；

第一底壁，所述第一载物台固定于所述第一底壁上。

7.根据权利要求6所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件的第一底壁上设置有凹槽固定孔，用于固定所述第一载物台。

8.根据权利要求5所述的准直装置，其特征在于，所述第一连接件包括：

第一侧壁，固定于所述位移台；

第一顶壁，设置有至少两个长型通孔，所述第一载物台固定于所述第一顶壁上，并通过所述长型通孔调节所述第一载物台的位置。

9.根据权利要求1所述的准直装置，其特征在于，所述位移台包括：

第一方向位移部，沿第一方向滑动；

第二方向位移部，沿第二方向滑动，所述第二方向不同于所述第一方向；

第二连接件，所述第二连接件连接于所述第一方向位移部和所述第二方向位移部之间。

10.根据权利要求9所述的准直装置，其特征在于，所述第一方向位移部上设置有用于测量沿所述第一方向移动距离的刻度。

11.根据权利要求7所述的准直装置，其特征在于，所述第二方向位移部上设置有用于测量沿所述第二方向移动距离的刻度。

12.根据权利要求9所述的准直装置，其特征在于，所述第一方向垂直于所述第二方向。

13.一种利用如权利要求1-12中任一项所述的准直装置进行DOI测量的方法，其特征在于，包括以下步骤，

将放射源和准直晶体分别放置或固定于所述第一载物台的两端，使准直晶体与电路板上的光电转换器耦合；

使所述准直晶体与所述放射源对准；

将所述第一载物台连接于所述位移台，通过移动所述位移台测量不同位置处待测晶体的DOI。