[发明专利]试验设备参数修改方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供一种试验设备参数修改方法、装置、电子设备及存储介质，对试验设备的上位机软件进行多次预启动，并从内存中获取每次预启动后试验设备参数对应的特征数据；根据预设的比对规则对多组所述特征数据进行比对得到参数特征码；在正式启动试验设备的上位机软件后，利用字符串匹配算法在内存中查找与所述参数特征码相匹配的目标数据，并确定所述目标数据在内存中的起始地址；根据所述起始地址以及所述试验设备参数的数据类型确定所述试验设备参数所在的内存地址；调用写入函数将所述试验设备参数所在的内存地址中存储的数据修改为预设数据。本发明方案，解决了由于设备本身和设备厂家的限制，导致的参数修改难度大、效率低、稳定性差的问题。

技术领域

本发明涉及试验设备控制技术领域，尤其涉及一种试验设备参数修改方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着自动控制技术的发展，试验设备的控制也朝着自动化和智能化的方向发展，例如拉力机、炭黑分散仪等。试验设备控制通常是通过软件修改试验设备参数的方式来实现的，试验设备按照修改后的试验设备参数运行，完成相应的试验。

目前，通过软件修改试验设备参数的方式有以下几种：

1、通过OPC协议连接试验设备修改试验设备参数，此种方式需安装必要的协议网关硬件来实现，并需设备生产厂家提供PLC地址等信息，才能够达到通过软件修改试验设备参数的目的，且部分试验设备并不支持OPC协议，导致无法修改试验设备参数。

2、使用厂家提供的设备标准接口修改试验设备参数，部分国外设备生产厂家需要收取高额费用后才可提供设备标准接口，导致这部分设备无法实现通过软件修改试验设备参数的目的。

3、使用软件程序模拟人工操作修改试验设备参数，此种方式速度慢、不稳定，容易导致参数修改失败。

因此，如何设计一种稳定高效且不受设备生产厂家限制的试验设备参数修改方法是一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种试验设备参数修改方法、装置、电子设备及存储介质，通过准确地查找试验设备参数所在内存地址的方式，直接在内存中修改设备试验参数，实现了设备试验参数的自动修改，解决了现有技术由于设备本身和设备生产厂家的限制，导致的参数修改难度大、效率低、稳定性差的问题。

第一方面，本发明提供一种试验设备参数修改方法，包括：

对试验设备的上位机软件进行多次预启动，并从内存空间中获取每次预启动后试验设备参数对应的特征数据；

根据预设的比对规则对多组所述特征数据进行比对得到参数特征码；

在正式启动试验设备的上位机软件后，利用字符串匹配算法在内存中查找与所述参数特征码相匹配的目标数据，并确定所述目标数据在内存中的起始地址；

根据所述起始地址以及所述试验设备参数的数据类型确定所述试验设备参数所在的内存地址；

调用写入函数将所述试验设备参数所在的内存地址中存储的数据修改为预设数据。

可选实施例中，所述对试验设备的上位机软件进行多次预启动，并从内存空间中获取每次预启动后试验设备参数对应的特征数据，包括：

启动试验设备的上位机软件，并利用调试工具加载已启动的所述上位机软件获取试验设备参数的内存基址；

根据所述内存基址和预设数据长度确定试验设备参数对应的特征数据的内存地址；

根据所述试验设备参数对应的特征数据的内存地址获取内存空间中存储的试验设备参数对应的特征数据；

通过反复重启上位机软件的方式，获得多组试验设备参数对应的特征数据。

可选实施例中，所述根据预设的比对规则对多组所述特征数据进行比对得到参数特征码，包括：