[发明专利]一种半自动化芯片测试机台及工作方法

说明书

本发明公开了一种半自动化芯片测试机台及工作方法，包含测试机座、测试台与动作机构，所述的测试台设置在所述的测试机座上，是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放式箱体，用于置放测试芯片并执行测试动作；所述的动作机构包含气缸，设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片，本发明的工作方法为步骤S101测试机台通电；步骤S102装载待测芯片；步骤S103启动芯片测试；步骤S104芯片测试结束；步骤S105输出芯片测试结果，本发明整个测试过程由程序控制，减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。

技术领域

本发明涉及一种芯片测试技术领域，特别是涉及一种半自动化芯片测试机台及工作方法。

背景技术

内存芯片常被人叫做“内存颗粒”，内存芯片是存储器件中最核心的部件，内存芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。因为芯片都有一定的不良率，所以内存芯片在其应用前要进行严格的检测。

现有技术中常采用人工操作的方式对内存芯片进行测试，比如把内存芯片装载入特定的夹具，之后工人把装好内存芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由工人手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，投入人工成本大，而且对测试中程中的任何环节都容易出错，从而影响测试效率。

鉴于此，如何开发一种新的内存芯片测试方法，以自动测试来替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。

发明内容

针对以上现有技术的不足，本发明公开了两种技术方案，第一种技术方案为一种对内存芯片进行自动测试的测试机台，所述的测试机台包含机座、测试台与动作机构，可以实现对内存芯片的半自动化测试，大大提高了内存芯片的测试效率，与节约了人力成本；第二种技术方案为基于第一种技术方案的一种工作方法。

本发明的第一种技术方案具体如下：

一种半自动化芯片测试机台，包含测试机座、测试台与动作机构。

所述的测试机座首选为长方体型（也可以为正方体型、或其可满足本技术方案的多边体型，具体不做太多限定），所述的测试机座内部安装有控制板，所述的控制板用于控制测试台进行测试动作以及用于控制动作机构进行压紧动作。

所述的测试台设置在所述的测试机座上，所述的测试台是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放的箱体，用于测试内存芯片并执行测试动作。

所述的测试台包含测试板，本技术方案中，所述的测试板设置在所述的背板上，与所述的测试机座内部安装的控制板电性连接并进行信息通信。所述的测试板的作用是执行对内存芯片的测试。

本技术方案中的动作机构，包含有气缸，所述的动作机构设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片。

进一步地，所述的背板上还设置有第一支架，所述的第一支架上安装有芯片载台，所述的芯片载台设置在正对所述测试板的测试接口位置。

进一步地，所述的动作机构包还包含第二支架、电磁阀与调压阀，所述的气缸、电磁阀与调压阀设置在所述的第二支架上。

进一步地，所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管，所述电磁阀的出气管连接所述气缸。

进一步地，所述的电磁阀通过继电器连接所述的控制板，所述的继电器设置在测试机座里。

在更优的技术方案中，所述的气缸的伸缩杆终端设置有压板，当所述的气缸工作时，所述的压板压紧所述的芯片载台。

进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含电源接口，所述的电源接口优选设置在所述的测试机座侧面，还可以设置在测试机座或测试台的其他位置，所述的电源接口电性连接测试机座内部的电源模块。