[发明专利]位置测定部件在审

专利信息
申请号: 202111208827.8 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN113933030A 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 藤冈孝弘;堀切宏则;池田贤元 申请(专利权)人: 纳卢克斯株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/26
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 测定 部件
【说明书】:

本发明提供一种位置测定部件,其具有被设置在一个平面或相互平行的多个平面上的、至少一个光学元件和该至少一个光学元件的位置对准用的至少2个位置基准部,其中,各位置基准部为柱状,并且具有倾斜面,该倾斜面被形成为,对设置有各位置基准部的第1平面和与该第1平面平行的第2平面进行连接,该倾斜面相对于设置有各位置基准部的平面的角度θ为20度至70度的范围,该第1平面与该倾斜面形成柱的周围的槽。

本申请是基于发明名称为“位置测定方法以及部件”,申请日为2018年5月8日,申请号为201810430660.1的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及利用如下测定装置的图像来进行位置测定的位置测定方法以及适用于上述测定方法的部件,该测定装置具有使用同轴落射照明的摄像光学系统。

背景技术

例如,当将在一个面上排列有多个透镜的部件与具有多个光纤的连接器相结合时,为了将透镜与光纤的位置对准,有时会使作为设置在部件的该面上的柱状的凸部的、位置基准部与设置在连接器上的凹部嵌合。在这种情况下,要想进行各透镜与各光纤之间的位置对准,需要高精度地保证部件的面上的位置基准部与各透镜之间的距离。因此,需要对部件的位置基准部与各透镜之间的距离进行高精度的测定。这样的测定可以使用CNC(Computer Numerical Control:计算机数值控制)图像测定器等测定装置来实施(例如专利文献1)。

在部件的面上的位置基准部与各透镜之间的距离的测定中,需要在测定装置的图像中,准确地确定该面上的柱状的位置基准部的位置。以往,在测定装置的图像中,由于很难识别位置基准部的柱的根部的部分,因此会识别位置基准部的柱的前端的部分,根据前端部分的位置确定位置基准部的位置,并且以该位置为基准确定透镜的位置。

然而,例如,当位置基准部的柱相对于该面的法线倾斜时,在从该法线的方向所取得的测定装置的图像中,位置基准部的柱的根部的位置与前端的位置之间会产生间隔。因此,当根据前端部分的位置确定位置基准部的位置,并且以该位置为基准确定透镜的位置时,会产生与上述间隔对应的距离误差。

这样,并没有开发出在测定装置的图像中,使用部件的位置基准部的位置,以较高的精度求出透镜等的位置的位置测定方法以及适用于上述测定方法的部件。

【专利文献1】:日本特开2004-4055号公报

发明内容

因此,需要一种在测定装置的图像中,使用部件的位置基准部的位置,以较高的精度求出透镜等的位置的位置测定方法以及适用于上述测定方法的部件。本发明的课题在于,提供一种在测定装置的图像中,使用部件的位置基准部的位置,以较高的精度求出透镜等的位置的位置测定方法以及适用于上述测定方法的部件。

本发明提供一种位置测定部件,其具有被设置在一个平面或相互平行的多个平面上的、至少一个光学元件和该至少一个光学元件的位置对准用的至少2个位置基准部,其中,各位置基准部为柱状,并且具有倾斜面,该倾斜面被形成为,对设置有各位置基准部的第1平面和与该第1平面平行的第2平面进行连接,该倾斜面相对于设置有各位置基准部的平面的角度θ为20度至70度的范围,该第1平面与该倾斜面形成柱的周围的槽。

本发明的第1方式的位置测定方法是如下的位置测定方法:在具有使用同轴落射照明的摄像光学系统的测定装置的图像中,对平面上的位置基准部的位置和任意的点的位置进行观察,从而对该任意的点的位置进行确定。在该位置基准部中,至少根部的部分是柱状,并且该位置基准部具有包围柱的根部的倾斜面。该位置测定方法包括如下步骤:在该测定装置的图像中,根据包围该根部的倾斜面与该平面的边界的位置,确定该根部的外周的位置;根据该根部的外周的位置确定该位置基准部的位置;以及以该位置基准部的位置为基准,确定该任意的点的位置。

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