[发明专利]电阻测量方法、装置、调阻设备和计算机可读存储介质

说明书

本申请实施例提出一种电阻测量方法、装置、调阻设备和计算机可读存储介质，涉及激光调阻技术领域。该方法由主控板为当前待调阻的目标电阻配置继电板及测量卡；在继电板及测量卡配置完成时控制测量卡对目标电阻进行调阻前电阻测量；在调阻前电阻测量完成时控制激光振镜控制卡对目标电阻进行激光调阻，并为下一颗待调阻电阻配置继电板及测量卡；在激光调阻完成时控制目标电阻的测量卡对目标电阻进行调阻后电阻测量；在调阻后电阻测量完成时，控制下一颗待调阻电阻的测量卡对下一颗待调阻电阻进行调阻前电阻测量。消除了下一颗待调阻电阻测阻前的继电器切换和电路整定时间，提高了调阻设备的工作效率。

技术领域

本申请涉及激光调阻技术领域，具体而言，涉及一种电阻测量方法、装置、调阻设备和计算机可读存储介质。

背景技术

目前的调阻设备的在对电阻进行激光调阻时，需要对其进行阻值测量，且一般采用单测量卡测量电阻的方式，对各待测电阻依次进行测量和调阻。

但单测量卡测量电阻，需要在上一颗电阻调阻和测阻结束后，才能开始对下一颗电阻的测量和调阻，且在进行电阻测量之前需要进行继电器和测量卡的准备工作。由于继电器的冷切换方式会延长通道切换时间，以及电路需要在电阻切换后进行一定的整定时间，因此，调阻设备在进行工作时存在效率低下的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种电阻测量方法、装置、调阻设备和计算机可读存储介质，以提高调阻设备测量电阻的效率。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请提供一种电阻测量方法，应用于调阻设备中的主控板，所述调阻设备还包括测量卡、继电板和激光振镜控制卡，所述测量卡、所述继电板和所述激光振镜控制卡均与所述主控板电连接，所述方法包括：

为当前待调阻的目标电阻配置继电板及测量卡；

在所述继电板及测量卡配置完成的情况下，控制所述测量卡对所述目标电阻进行调阻前电阻测量；

在接收到所述测量卡发送的测量结束信号的情况下，控制所述激光振镜控制卡对所述目标电阻进行激光调阻，并为下一颗待调阻电阻配置继电板及测量卡；

在接收到所述激光振镜控制卡发送的调阻结束信号的情况下，控制所述目标电阻的测量卡对所述目标电阻进行调阻后电阻测量；

在接收到所述目标电阻的测量卡发送的测量结束信号的情况下，控制所述下一颗待调阻电阻的测量卡对所述下一颗待调阻电阻进行调阻前电阻测量。

在可选的实施方式中，所述方法还包括：

获取当前待调阻的目标电阻的特征参数；

所述为当前待调阻的目标电阻配置继电板及测量卡，包括：

根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置继电板；

在所述继电板配置完成的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡。

在可选的实施方式中，在获取当前待调阻的目标电阻的特征参数的步骤之后，所述方法还包括：

根据所述目标电阻的特征参数更新所述目标电阻的继电器参数，其中，所述继电器参数为所述目标电阻的继电器通道；

为所述目标电阻置位配置标志；其中，所述配置标志用于表征目标电阻的继电板及测量卡配置是否完成。

在可选的实施方式中，所述在所述继电板配置完成的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡，包括：

检测所述目标电阻的配置标志是否置零；

在检测到所述目标电阻的配置标志置零的情况下，根据所述目标电阻的特征参数为所述目标电阻配置测量卡。