[发明专利]显示面板及其亮度补偿方法

说明书

本发明提供一种显示面板及其亮度补偿方法，显示面板的每个像素单元中的多个子像素单元共用同一个感测单元，且将每个像素单元的正常显示过程和光学检测过程分开进行，在各个像素单元进行正常显示之后，使每个像素单元中的多个子像素单元依次发光，同时通过该像素单元对应的感测单元分别测量该像素单元中的多个子像素单元的实际亮度，并根据所实际亮度对各个子像素单元进行亮度补偿，以使得各个子像素单元达到目标亮度，从而使各个子像素单元的亮度均达到目标亮度，即显示面板各区域的亮度均匀，由此在对显示面板进行光学补偿时，减少了光学补偿系统中光学传感器的数量，从而简化显示面板的制造工艺，降低成本。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其亮度补偿方法。

背景技术

有机发光显示二极管(OLED)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中，OLED按照驱动方式可以分为无源矩阵型(Passive Matrix OLED，PMOLED)和有源矩阵型(Active Matrix OLED，AMOLED)两大类，即直接寻址和薄膜晶体管(Thin FilmTransistor，TFT)矩阵寻址两类，其中，无源矩阵有机发光显示(PMOLED)随着显示尺寸的增大，需要更短的单个像素的驱动时间，因而需要增大瞬态电流，增加功耗，同时大电流的应用会造成ITO线上压降过大，并使OLED工作电压过高，进而降低其效率。而有源矩阵有机发光显示(AMOLED)通过开关管逐行扫描输入OLED电流，可以很好地解决这些问题。

然而，AMOLED显示面板也会由于薄膜晶体管的工艺不均匀或阈值电压漂移导致的电流差异、背板电源线的电容电阻负载导致的IR drop，以及OLED发光器件蒸镀时的膜厚不均导致的电学特性不均匀，使得各个像素的亮度出现差异，呈现显示不均匀(mura)或残影现象。因此，AMOLED显示面板一般集成了光学补偿系统，用于测量各像素的亮度，以将各像素的亮度调整为一致，但是，目前的光学补偿系统中，每个光学传感器仅对应一个子像素单元，随着显示面板尺寸的增大，像素数量急剧增加，会导致所需的光学传感器急剧增加，使得显示面板的制造工艺复杂、成本增加。

因此，目前亟需一种显示面板及其亮度补偿方法，以尽量减少光学补偿系统中光学传感器的数量，从而简化显示面板的制造工艺，降低成本。

发明内容

为了解决上述问题，本发明实施例提供一种显示面板及其亮度补偿方法。

第一方面，本发明实施例提供一种显示面板，该显示面板包括多个阵列排布的像素单元，每个所述像素单元包括多个子像素单元，，所述显示面板还包括感测单元，每个所述像素单元中的多个所述子像素单元分别连接同一个所述感测单元；每个所述感测单元用于测量对应的所述像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度，并根据所述实际亮度对各个所述子像素单元进行亮度补偿，以使得各个所述子像素单元达到目标亮度。

在一些实施例中，每个所述子像素单元包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第一存储电容和有机发光二极管；所述第一薄膜晶体管的栅极分别连接所述第二薄膜晶体管的漏极和所述第一存储电容的第一端，所述第一薄膜晶体管的源极连接电源正极，所述第一薄膜晶体管的漏极连接所述第一存储电容的第二端、所述有机发光二极管的阳极以及所述第三薄膜晶体管的源极，所述有机发光二极管的阴极连接电源负极，所述第二薄膜晶体管的栅极和第三薄膜晶体管的栅极连接第一扫描线，所述第二薄膜晶体管的源极连接数据线，所述第三薄膜晶体管的漏极连接感测线。

在一些实施例中，所述感测单元包括第四薄膜晶体管、光敏二极管和第二存储电容，所述第四薄膜晶体管的栅极连接第二扫描线，所述第四薄膜晶体管的漏极连接所述感测线，所述第四薄膜晶体管的源极连接该所述感测单元对应的各个所述子像素单元的所述第三薄膜晶体管的漏极，所述第四薄膜晶体管的漏极连接所述光敏二极管的第一端，所述光敏二极管的第二端连接控制线，所述第二存储电容的第一端连接所述感测线。