[发明专利]一种基于n-ZnO/PEDOT/HfO2 在审
申请号: | 202111214135.4 | 申请日: | 2021-10-19 |
公开(公告)号: | CN114024212A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 徐春祥;李竹新;石增良;刘威 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01S5/327 | 分类号: | H01S5/327;H01S5/323 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 王安琪 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 zno pedot hfo base sub | ||
1.一种基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管,其特征在于,包括:n-ZnO纳米棒、p-GaN薄膜、PEDOT薄膜、HfO2薄膜、PMMA保护层和金属电极;首先在p-GaN薄膜上溅射一层HfO2薄膜,然后依次旋涂PEDOT薄膜、n-ZnO纳米棒和PMMA薄膜,再将PMMA保护层刻蚀至n-ZnO纳米棒露出,最后在p-GaN薄膜和n-ZnO纳米棒上制备金属电极,最终构成完整的器件。
2.如权利要求1所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管,其特征在于,HfO2薄膜厚度为5~20nm。
3.如权利要求1所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管,其特征在于,PEDOT薄膜厚度为20~40nm,折射率为1.4~1.6。
4.如权利要求1所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管,其特征在于,金属电极为Au电极,位于ZnO和GaN表面,厚度为20~60nm。
5.一种基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将纯度均为99.97-99.99%的ZnO粉末和1000目的碳粉末按照质量比1:1混合研磨,放入一端开口的长度30cm、直径3cm的石英管封闭端;将硅片衬底切成1cm×1cm~1cm×2cm,依次进行丙酮、无水乙醇、去离子水超声清洗,氮气吹干,作为生长基底,放置距管口5cm~8cm位置处的石英管内;将石英管整体水平推入管式炉中高温反应,封闭管式炉,抽真空,并通入150sccm氩气和15sccm氧气,经过反应后,关闭气阀及真空泵,通入空气,当炉内气压为大气压时,开启管式炉,取出样品;
(2)将生长了ZnO纳米棒阵列的硅片放入乙醇中,通过超声分散的方法,得到均匀分散了ZnO纳米棒的乙醇溶液备用;
(3)使用丙酮、乙醇和去离子水将p-GaN衬底分别超声清洗,用氮气吹干备用;
(4)采用射频磁控溅射的方法,将清洁的p-GaN衬底,放入磁控溅射仪中,溅射一层HfO2薄膜;
(5)在HfO2薄膜上依次旋涂PEDOT薄膜、均匀分散ZnO纳米棒的乙醇溶液和PMMA薄膜并高温烘干;
(6)使用氧等离子清洗仪刻蚀PMMA薄膜,使得ZnO纳米棒顶端被暴露出来;
(7)在ZnO和GaN表面沉积Au电极;
(8)将步骤(7)最后生成的n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管进行电学性质测量,并测量电泵浦发光光谱。
6.如权利要求5所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,高温反应的温度为800~1200℃,反应时间为20-40分钟。
7.如权利要求5所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(4)中,溅射靶材是HfO2靶材,规格为60×2mm,腔体气压为1~3Pa,氩气流量为40~60sccm,氮气流量为5~10sccm,溅射功率为40~80W,溅射时间为5~20min。
8.如权利要求5所述的基于n-ZnO/PEDOT/HfO2/p-GaN的紫外激光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(5)中,旋涂参数为低转速500~600转每分钟,旋转5~10秒,高转速2000~4000转每分钟,旋转30~60秒,高温烘干温度为100℃~150℃。
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