[发明专利]一种钻削孔分层缺陷定量检测方法在审
申请号: | 202111215052.7 | 申请日: | 2021-10-19 |
公开(公告)号: | CN113740364A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 罗世通;武涛;张栋;董振 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046 |
代理公司: | 北京哌智科创知识产权代理事务所(普通合伙) 11745 | 代理人: | 何浩 |
地址: | 030000*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 钻削孔 分层 缺陷 定量 检测 方法 | ||
1.一种钻削孔分层缺陷定量检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
S1、经CT扫描得到的分层缺陷灰度图像,通过软件对分层缺陷灰度图像进行纯黑白化;
S2、在图像中心选取一定数量连续取样点,取样点在宽度和高度方向上与图像中心距离不超过固定跨度,保证所有取样点位于分层缺陷内部,最终所有取样点以图像中心为中心成正方形,确定所有取样点的圆心坐标(xc,yc);
S3、在图像的四个边缘沿着x轴和y轴向圆心逐个历遍路径上的像素点,确定分层缺陷最外侧像素点所在位置;
S4、分别计算各个最外侧分层缺陷像素点与圆心之间的距离半径和角度值,从而确定实际分层缺陷区域面积。
2.根据权利要求1所述的一种钻削孔分层缺陷定量检测方法,其特征在于:S1中所述通过软件对分层缺陷灰度图像进行纯黑白化,具体步骤包括:
(1)引入Python平台中图像处理标准库PIL的image模块;
(2)打开目标图像,设定临界灰度值;
(3)根据图像宽度和高度历遍图像中每一个像素点进行逻辑判断,如果其灰度值小于等于临界值,将其改为纯白色,如果其灰度值大于临界值,将其改为纯黑色。
3.根据权利要求1所述的一种钻削孔分层缺陷定量检测方法,其特征在于:S2中所述确定所有取样点的圆心坐标(xc,yc),具体步骤包括:
(1)取分层缺陷图像的宽度方向从左向右为x轴正向,最左侧为0,高度方向由上至下为y轴正向,最上方为0,选定图像中心坐标为(x0,y0);
(2)在取样点范围内从x0开始沿x轴正向和负向延伸历遍每一个像素点,并进行逻辑判断,直到找到第一个纯白色像素点,将该像素点坐标写入列表inner_x并停止x轴方向循环,进入下一个y坐标循环;
(3)在取样点范围内从y0开始沿y轴正向和负向延伸历遍每一个像素点,并进行逻辑判断,直到找到第一个纯白色像素点,将该像素点坐标写入列表inner_y并停止y轴方向循环,进入下一个x坐标循环;
(4)将列表inner_x中坐标元素按照y坐标值排序,将列表inner_y中坐标元素按照x坐标值排序;
(5)提取inner_x列表内相邻坐标元素(y坐标相等)中的x坐标值并相加,即得孔壁圆内部x轴方向弦长度值xs;
(6)计算xs平均值并取整即得圆心x坐标值xc;
(7)提取inner_y列表内相邻坐标元素(x坐标相等)中的y坐标值并相加,即得孔壁圆内部y轴方向弦长度值ys;
(8)计算ys平均值并取整即得圆心y坐标值yc。
4.根据权利要求1所述的一种钻削孔分层缺陷定量检测方法,其特征在于:S4中所述确定分层缺陷最外侧像素点所在位置,具体包括如下步骤:
(1)通过圆心的水平线和垂线按90°将分层缺陷灰度图像分为四个区域,以最右侧为0°顺时针递增;
(2)从分层缺陷灰度图像四个边缘沿x轴和y轴向圆心逐个历遍路径上的像素点,搜索到的第一个纯白色像素点坐标即为分层缺陷最外侧所在位置。
5.根据权利要求1所述的一种钻削孔分层缺陷定量检测方法,其特征在于:S5中所述分别计算各个最外侧分层缺陷像素点与圆心之间的距离半径和角度值,具体包括以下步骤:
(1)计算每个分层缺陷最外侧像素点与圆心间的距离,将其存入字典dists,字典中每一个键值对的键为(xi,yi)相对于圆心的角度,值为(xi,yi)与圆心间的距离;
(2)将字典dists排序,绘制图表,得到平均距离半径以及距离半径最大值及其对应角度。
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