[发明专利]用于确定样本渗透压的系统和方法在审
申请号: | 202111215495.6 | 申请日: | 2016-11-10 |
公开(公告)号: | CN114527097A | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 保罗·T·加瓦里斯;克里斯·D·格迪斯;阿里·H·古万卢 | 申请(专利权)人: | 拉克里赛恩西斯有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/552 | 分类号: | G01N21/552;G01N33/84;A61B5/1455;A61B3/10 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 谭营营;胡彬 |
地址: | 美国哥伦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 样本 渗透压 系统 方法 | ||
1.一种系统,包括:
(i)传感器,其包括包含涂覆区域的感测表面,其中所述传感器被配置为:引导第一光学信号以第一入射角与所述感测表面交互;以及
引导第二光学信号以第二入射角与所述感测表面交互;以及
(ii)光学底架,其包括:
光学信号产生部件;
检测部件;
处理器;
控制器;和
计算机可读介质,其包括当被所述处理器执行时使得所述控制器执行以下动作的指令:
引导具有第一波长的光学信号以第一入射角与所述感测表面交互,以产生第一表面等离子激元共振(SPR)信号;
使用所述检测部件在第一时间间隔上产生所述第一SPR信号的一系列图像;
确定与所述第一SPR信号在所述第一时间间隔上的最小值相对应的一系列像素位置;
引导具有第二波长的光学信号以所述第一入射角与所述感测表面交互,以产生第二SPR信号;
使用所述检测部件在第二时间间隔上产生所述第二SPR信号的一系列图像;
确定与所述第二SPR信号在所述第二时间间隔上的最小值相对应的一系列像素位置;
比较与所述第一SPR信号在所述第一时间间隔上的最小值相对应的一系列像素位置和至少一个参考特征的像素位置,以产生第一参考校正后的SPR函数;
比较与所述第二SPR信号在所述第二时间间隔上的最小值相对应的一系列像素位置和所述至少一个参考特征的像素位置,以产生第二参考校正后的SPR函数;以及
比较所述第一参考校正后的SPR函数和所述第二参考校正后的SPR函数的一个或多个特性,以确定参考校正后的SPRΔ像素值。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述计算机可读介质还包括当被所述处理器执行时使得所述控制器执行以下动作的指令:
引导具有第一波长的光学信号以第二入射角与所述感测表面交互,以产生第三表面等离子激元共振(SPR)信号;
使用所述检测部件产生所述第三SPR信号的图像;
确定所述第三SPR信号的最小值在所产生的图像上的像素位置;
引导具有第二波长的光学信号以所述第二入射角与所述感测表面交互,以产生第四SPR信号;
使用所述检测部件产生所述第四SPR信号的图像;
确定所述第四SPR信号的最小值在所产生的图像上的像素位置;以及
比较所述第三SPR信号的最小值的所述像素位置和所述第四SPR信号的最小值的所述像素位置以确定SPRΔ像素值。
3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述计算机可读介质还包括当被所述处理器执行时使得所述控制器执行以下动作的指令:
引导具有所述第一波长的光学信号以所述第二入射角与所述感测表面交互,以产生第一临界角信号;
使用所述检测部件产生所述第一临界角信号的图像;
确定所述第一临界角信号的最大值在所产生的图像上的像素位置;
引导具有第二波长的光学信号以所述第一入射角与所述感测表面交互,以产生第二临界角信号;
使用所述检测部件产生所述第二临界角信号的图像;
确定所述第二临界角信号的最大值在所产生的图像上的像素位置;以及
比较第一临界角信号和第二临界角信号的最大值的所述像素位置,以确定临界角Δ像素值。
4.根据权利要求1所述的系统,其中,第一参考校正后的SPR函数和第二参考校正后的SPR函数的特性包括第一参考校正后的SPR函数和第二参考校正后的SPR函数的导数。
5.根据权利要求1所述的系统,其中,第一参考校正后的SPR函数和第二参考校正后的SPR函数的特性包括第一参考校正后的SPR函数和第二参考校正后的SPR函数的平稳值。
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