[发明专利]材料透射比测量方法及材料透射比测量装置

说明书

本发明属于光学检测技术领域，具体为包括材料透射比测量方法，该方法中，在积分球上设置辅助光源，分别测量放置被测样品时和不放置被测样品时积分球内的漫反射条件的差异，通过计算并消除上述差异，并最终得到精确的材料透射比。另外包括一种材料透射比测量装置，该测量装置包括测量积分球和正对测量积分球的主光源组件，测量积分球上开设进光口，且该进光口位于主光源组件的出射光光路上；该测量装置还包括安装在测量积分球上的光测量装置，该测量装置还包括辅助光源，该辅助光源的出射光直接进入测量积分球内部。通过该装置，可以精确测量放置样品和不放置样品时积分球的状态变化，在计算时消除这一变化，从而准确测量材料的透射比。

技术领域

本发明属于光学测量技术领域，具体为包括材料透射比测量方法以及材料透射比测量装置。

背景技术

目前，在测量材料透射比时经常采用积分球法进行测量，在CIE15中涉及积分球测量法的方式有两种，一种是(d/0)漫射/垂直测量方式，一种是(0/d)垂直/漫射测量方式。当采用d/0方式时，在积分球上设置一个光源、一个出光口，光源发射的光经过积分球反射后经出光口出射，被测样品设置在积分球出光口出，与积分球出光口的正对位置设置光测量仪器，分别测定设置样品时的光信号与不设置样品时的光信号，计算得到透射比。当采用0/d方式时，将光测量装置设置在积分球上，将光源设置在正对积分球的出光口的外侧，光源采用具有准直光输出性能的光源照射积分球出光口，积分球接收到的光经过反射最终被光测量装置接收测得光信号，同样地，分别测定设置样品时的光信号与不设置样品时的光信号，计算得到透射比。

在实际使用过程中，放置样品和不放置样品时积分球的状态发生了改变，有样品时，样品表面也构成了积分球内壁的一部分，积分球内的漫射条件被改变，导致光测量装置接收到的光信号变化不能准确地反应材料透射比。

为了弥补这一不足，现有技术通过在积分球的样品安装口附近新开补偿接口的方法来消除放置样品与不放置样品的差异，这种方法可以很大程度上消除误差，但是仍然不能完全使得两种状态的积分球内的漫射条件完全一致。

发明内容

本发明的目的在于提供材料透射比测量方法，本发明通过使用辅助光源，能够精确测定积分球在两次测量时的漫反射条件的改变值，这种测量方法可以消除背景技术提高的测量方法的缺陷，提高测量精度。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：材料透射比测量方法，在积分球上设置辅助光源，分别测量放置被测样品时和不放置被测样品时积分球内的漫反射条件的差异，通过计算并消除上述差异，并最终得到精确的材料透射比。

作为优选方案，所述材料透射比测量方法具体步骤如下：

1)在开口上不放置被测样品，测试主光源测量值T1；

2)在开口上不放置被测样品，测试辅助光源测量值T2；

3)在开口上放置被测样品，测试主光源测量值T3；

4)在开口上放置被测样品，测试辅助光源测量值T4；

5)通过公式：透射比＝(T3/T1)*(T2/T4)，计算得到待测样品的透射比。

优选地，所述方法为(0/d)垂直/漫射测量方式。

本发明的另一个目的在于提供一种材料透射比测量装置，通过该装置可以分别测量有被测样品和无被测样品时积分球内的漫反射条件的差异，并最终计算得到精确的材料透射比。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：材料透射比测量装置。该装置包括测量积分球和正对测量积分球的主光源组件，所述测量积分球上开设进光口，且该进光口位于主光源组件的出射光光路上；该测量装置还包括安装在测量积分球上的光测量装置。该测量装置还包括辅助光源，该辅助光源的出射光直接进入测量积分球内部；在辅助光源的光路上设置第一挡光屏，在光测量装置接收光线的光路上设置第二挡光屏。