[发明专利]一种积分球法测量材料透射比的方法及积分球测量装置

说明书

本发明属于光学测量技术领域，具体包括一种积分球法测量材料透射比的方法，在积分球的样品安装口正前方设置第一光测量装置，第一光测量装置和样品安装口之间设置样品固定件，然后在积分球上安装第二光测量装置。该方法能够克服现有d/0测量方法存在的缺陷，提高测量精度。该发明还括积分球测量装置，其中的测量积分球具有样品安装口和样品固定件。还包括第一光测量装置和主光源，所述第一光测量装置位于样品安装口的正前方，并使得样品位于第一光测量装置的测量光路上，另外还包括第二光测量装置。该装置能够分別测得样品固定件上放置样品时和不放置样品时积分球内的漫反射条件的差异，然后通过计算消除上述差异，并最终得到精确的材料透射比。

技术领域

本发明属于光学测量设备技术领域，具体为包括一种积分球法测量材料透射比的方法及积分球测量装置。

背景技术

目前，在测量材料透射比时经常采用积分球法进行测量，在CIE15中涉及积分球测量法的方式有两种，一种是(d/0)漫射/垂直测量方式，一种是(0/d)垂直/漫射测量方式。当采用d/0方式时，在积分球上设置一个光源、一个出光口，光源发射的光经过积分球反射后经出光口出射，被测样品设置在积分球出光口出，与积分球出光口的正对位置设置光测量仪器，分别测定设置样品时的光信号与不设置样品时的光信号，计算得到透射比。当采用0/d方式时，将光测量装置设置在积分球上，将光源设置在正对积分球的出光口的外侧，光源采用具有准直光输出性能的光源照射积分球出光口，积分球接收到的光经过反射最终被光测量装置接收测得光信号，同样地，分别测定设置样品时的光信号与不设置样品时的光信号，计算得到透射比。

在实际使用过程中，放置样品和不放置样品时积分球的状态发生了改变，有样品时，样品表面也构成了积分球内壁的一部分，积分球内的漫射条件被改变，导致光测量装置接收到的光信号变化不能准确地反应材料透射比。

为了弥补这一不足，现有技术通过在积分球的样品安装口附近新开补偿接口的方法来消除放置样品与不放置样品的差异，这种方法可以很大程度上消除误差，但是仍然不能完全使得两种状态的积分球内的漫射条件完全一致。

发明内容

本发明的目的在于提供一种积分球法测量材料透射比的方法，以及实施该方法的积分球测量装置。本发明通过辅助光测量装置，精确测定积分球在两次测量时的漫反射条件的改变值，克服现有d/0测量方法存在的缺陷，提高测量精度。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种积分球法测量材料透射比的方法，该方法中，在测量积分球的样品安装口正前方设置第一光测量装置，第一光测量装置和样品安装口之间设置样品固定件，然后在测量积分球上安装第二光测量装置，并将第二光测量装置作为辅助光测量装置；在开启第一光测量装置和第二光测量装置的情况下，分別测得样品固定件上放置样品时和不放置样品时积分球内的漫反射条件的差异，然后通过计算消除上述差异，并最终得到精确的材料透射比，其具体步骤如下：

1)在样品固定件上不放置被测样品，测试第一光测量装置的测量值T1、测试第二光测量装置的测量值T2；

2)在样品固定件上放置被测样品，测试第一光测量装置的测量值T3、测试第二光测量装置的测量值T4；

3)利用公式：透射比＝(T3/T1)*(T2/T4)，计算得到待测样品的透射比。

优选地，所述方法为(d/0)漫射/垂直测量方式。

本发明的另一个目的在于提供一种能够精准测量材料透射比的装置，该装置以积分球为基本测量工具，并设置两组光测量装置，通过该装置可以分别测量有被测样品和无被测样品时积分球内的漫反射条件的差异，并最终计算得到精确的材料透射比。