[发明专利]金刚石形成用结构体、及金刚石形成用结构体的制造方法有效

专利信息
申请号: 202111232202.5 申请日: 2021-10-22
公开(公告)号: CN114381802B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 会田英雄;泽边厚仁;木村丰;水野润;大岛龙司 申请(专利权)人: 国立大学法人长冈技术科学大学;泽边厚仁;木村丰;学校法人早稻田大学;株式会社迪思科
主分类号: C30B29/04 分类号: C30B29/04;C30B25/18
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 金刚石 形成 结构 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种金刚石形成用结构体,其特征在于,由基底基板和在所述基底基板上形成的Ir薄膜构成,

所述基底基板的热膨胀系数为所述金刚石的热膨胀系数的5倍以下,并且所述基底基板的熔点为700℃以上,

所述Ir薄膜的X射线衍射图案中的全部峰的角度与所述基底基板的X射线衍射图案中的峰的角度不同。

2.根据权利要求1所述的金刚石形成用结构体,其中,所述Ir薄膜的摇摆曲线中的(002)面的半高宽为700arcsec以下。

3.根据权利要求1或2所述的金刚石形成用结构体,其中,所述Ir薄膜的膜厚为1μm以下。

4.根据权利要求1或2所述的金刚石形成用结构体,其中,所述基底基板为Si、多晶金刚石或烧结金刚石。

5.根据权利要求3所述的金刚石形成用结构体,其中,所述基底基板为Si、多晶金刚石或烧结金刚石。

6.一种金刚石形成用结构体的制造方法,其特征在于,其是权利要求1~5中任一项所述的金刚石形成用结构体的制造方法,所述制造方法具备:

Ir成膜工序,在具有700℃以上的熔点的模拟基板上将Ir薄膜成膜;

载置工序,以通过所述Ir成膜工序成膜的Ir薄膜与事先准备的基底基板相接触的方式,将成膜有所述Ir薄膜的所述模拟基板载置于所述基底基板,所述模拟基板为MgO或蓝宝石,所述基底基板为Si、多晶金刚石或烧结金刚石;

接合工序,在所述载置工序之后,将所述基底基板与所述Ir薄膜接合;和

去除工序,在所述接合工序之后,去除所述模拟基板。

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