[发明专利]SSD FNV功能恢复写性能的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.SSD FNV功能恢复写性能的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

对SSD进行安全擦除；

对SSD连续写入数据，并记录每次写完所需的时间Time1_n；

判断连续写入数据的次数是否达到设定值；

若是，则对SSD进行安全擦除；

对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time2_n；

判断写入数据的次数是否达到设定值；

若否，则对SSD下发FNV命令，等FNV操作完成，并记录FNV的完成时间Time3_n，然后返回执行步骤“对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time2_n”；

若是，则对SSD进行安全擦除；

对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time4_n；

判断写入数据的次数是否达到设定值；

若否，则停顿至设定时间，然后返回执行步骤“对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time4_n”；

若是，则比对Time1_n，Time2_n及Time4_n的时长大小，输出结果。

2.根据权利要求1所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试方法，其特征在于，所述设定值大于等于5。

3.根据权利要求1所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试方法，其特征在于，所述设定时间等于完成时间Time3_n。

4.根据权利要求1所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试方法，其特征在于，所述写入数据的数据量大于SSD中SLC区域的容量。

5.SSD FNV功能恢复写性能的测试装置，其特征在于，包括：第一擦除单元，第一写入记录单元，第一判断单元，第二擦除单元，第二写入记录单元，第二判断单元，下发记录返回单元，第三擦除单元，第三写入记录单元，第三判断单元，停顿返回单元及比对单元；

所述第一擦除单元，用于对SSD进行安全擦除；

所述第一写入记录单元，用于对SSD连续写入数据，并记录每次写完所需的时间Time1_n；

所述第一判断单元，用于判断连续写入数据的次数是否达到设定值；

所述第二擦除单元，用于对SSD进行安全擦除；

所述第二写入记录单元，用于对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time2_n；

所述第二判断单元，用于判断写入数据的次数是否达到设定值；

所述下发记录返回单元，用于对SSD下发FNV命令，等FNV操作完成，并记录FNV的完成时间Time3_n，然后返回执行对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time2_n；

所述第三擦除单元，用于对SSD进行安全擦除；

所述第三写入记录单元，用于对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time4_n；

所述第三判断单元，用于判断写入数据的次数是否达到设定值；

所述停顿返回单元，用于停顿至设定时间，然后返回执行对SSD写入数据，并记录写完所需的时间Time4_n

所述比对单元，用于比对Time1_n，Time2_n及Time4_n的时长大小，输出结果。

6.根据权利要求5所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试装置，其特征在于，所述设定值大于等于5。

7.根据权利要求5所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试装置，其特征在于，所述设定时间等于完成时间Time3_n。

8.根据权利要求5所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试装置，其特征在于，所述写入数据的数据量大于SSD中SLC区域的容量。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD FNV功能恢复写性能的测试方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的SSDFNV功能恢复写性能的测试方法。