[发明专利]一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法

权利要求书

1.一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法，其特征在于：

在分光壳体（101）的内部，安装晶体台（203）；晶体座（202）通过轴销（204）与晶体台（203）连接，晶体座（202）能够以轴销（204）为中心转动；在晶体台（203）上固定有弹簧片（205），弹簧片（205）的翘起部位顶在晶体座（202）的一端；晶体座（202）上固定有分光晶体（206）；

分光壳体（101）开有圆孔，圆孔的内部设有螺纹；晶体台（203）开有圆孔，晶体台（203）的圆孔与分光壳体（101）的圆孔是同心的；

涡轮（301）与转轴（302）的一端连接；在转轴（302）的另一端设有螺纹，转轴（302）的螺纹部分与分光壳体（101）连接；转轴（302）的在分光壳体（101）内部的一端接有顶头（303）；

分光壳体（101）的外部固定有步进电机（401），步进电机（401）连接有蜗杆（402），蜗杆（402）与涡轮（301）构成蜗轮蜗杆结构；当步进电机（401）旋转时，通过蜗杆（402）带动涡轮（301）；

涡轮（301）一侧与转轴（302）连接，另一侧通过联轴器（405）与多圈绝对值编码器（403）连接；多圈绝对值编码器（403）通过电缆与电机控制模块（404）连接，电机控制模块（404）为多圈绝对值编码器（403）提供工作电源及接收信号；步进电机（401）通过电缆与电机控制模块（404）连接，电机控制模块（404）为步进电机（401）提供工作电源及发送控制信号；

分光壳体（101）开有狭缝A（103）和狭缝B（104），X荧光从狭缝A（103）入射，经过分光晶体（206）的反射之后，从狭缝B（104）出射；分光壳体（101）连接有探测器（105），探测器（105）接收从狭缝B（104）出射的X荧光；探测器（105）通过电缆与信号处理器（106）连接，信号处理器（106）为探测器（105）提供工作电源及接收信号；

信号处理器（106）通过电缆与工控机（107）连接，信号处理器（106）将接收到探测器（105）的脉冲信号后，转换为计数率的数字信号传输给工控机（107）；

电机控制模块（404）通过电缆与工控机（107）连接。

2.基于权利要求1所述的一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法，其特征为：

通过涡轮（301）的顺时针方向或逆时针方向旋转，可以调节转轴（302）在分光壳体（101）内部空间里的长度。

3.基于权利要求1所述的一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法，其特征为：

顶头（303）的外径为φ2，晶体台（203）的圆孔的内径为φ3，分光壳体（101）的圆孔的内径为φ1，则有φ1φ2φ3。

4.基于权利要求1所述的一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法，其特征为：

当需要将分光晶体（206）调整到最佳位置时，工控机（107）通过电机控制模块（404）控制步进电机（401）的旋转，使晶体座（202）从极限位置1的状态逐渐变化到极限位置2的状态，在该过程中，多圈绝对值编码器（403）的信号传输给电机控制模块（404），经过电机控制模块（404）转换为代表晶体座（202）不同位置的数字化信号后传输给工控机（107）；同时信号处理器（106）将接收到探测器（105）的脉冲信号后，转换为计数率的数字信号传输给工控机（107）；工控机（107）将数据处理成为谱形；

工控机（107）对谱形进行平滑处理，然后对平滑之后的谱形寻找最大值，最大值的横坐标位置n1所对应的晶体座（202）位置为最佳位置，工控机（107）通过电机控制模块（404）控制步进电机（401）的旋转，使多圈绝对值编码器（403）的信号对应到n1即可。

5.基于权利要求4所述的一种可自动调节的在线X荧光分析仪光路装置及使用方法，其特征为：

工控机（107）对谱形进行平滑处理，所采用的平滑方法为：工控机（107）将数据处理成为谱形，谱形的横轴代表晶体座（202）不同位置，取值范围为1~N，其中极限位置1状态时对应为1，极限位置2状态时对应为N，纵轴为晶体座（202）处于该位置状态下的计数率；

为避免涨落效应，工控机（107）对谱形进行平滑处理，具体的平滑公示为：

当1≤n≤4或N-4≤n≤N时，；

当4nN-4时，；

其中为平滑之前谱形中道址为n的计数率，为平滑之后谱形中道址为n的计数率。