[发明专利]基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法有效
申请号: | 202111237895.7 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN113689427B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 邱增帅;王罡;潘正颐;侯大为 | 申请(专利权)人: | 常州微亿智造科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62;G06V10/774;G06V10/764;G06V10/40 |
代理公司: | 常州至善至诚专利代理事务所(普通合伙) 32409 | 代理人: | 朱丽莎 |
地址: | 213100 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 空间 粒子 自动 吸引 算法 进行 参数 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
第1步骤、采集若干工件图像;
第2步骤、对缺陷位置进行分块,采用s层小波分解的方式对每个区域的图像进行逐层二维小波分解,提取其小波分解系数,s∈[1,5]的正整数,之后将第s层小波分解后的小波分解系数拼接特征向量;
第3步骤、计算出所有图像相同区域的特征向量;
第4步骤、划分训练集和测试集,训练集训练分类器,测试集验证分类器:将所有图像同一区域的特征向量整理后作为数据集,以1:1的比例将数据集划分为训练集和测试集,将训练集和测试集分别放入分类器中进行训练,训练集训练分类器,测试集验证分类器,分类器选用支持向量机svm;
第5步骤、使用空间粒子自动吸引算法对支持向量机svm的参数进行寻优,并训练支持向量机svm;
第6步骤、输出分类器模型:得到训练完毕后的支持向量机svm后,按照第1步骤到第4步骤处理新拍摄的图像,得到其特征向量,之后输入到支持向量机svm中进行分类;
所述第5步骤的具体步骤如下:
第5.1步骤、生成混沌序列:确定解空间,并通过解的数目和维数确定空间中粒子的数目和维数;
第5.2步骤、随机生成粒子:设置各个粒子初始位置以及总迭代次数;
第5.3步骤、计算粒子适应度:将粒子带入要解决的问题中,计算粒子适应度,更新系数G、best和wrost;
第5.4步骤、更新粒子加速度:计算粒子受力,计算粒子在力作用下的加速度;
第5.5步骤、更新粒子速度、质量,使用混沌值对速度加权,计算粒子在力作用下的速度;
第5.6步骤、根据速度更新粒子位置:根据第5.4步骤和第5.5步骤中的结果以及运动学公式计算粒子新的位置;
第5.7步骤、重复上述步骤,达到最大迭代次数;
第5.8步骤、结束空间粒子自动吸引算法;
所述第5.4步骤中粒子受力的计算公式如下:
其中,表示第i个粒子;表示粒子的第j维度;表示在第t次迭代中,第i个粒子在第j维度的受力;表示迭代次数;表示维度相关;表示万有引力常数;表示引力质量;表示第j维度产生引力场的强弱,称为主动引力质量;表示第i粒子处于引力场时受到的引力大小,称为被动引力质量;表示第i个粒子到第j维度的欧氏距离;表示当前粒子在某个维度的距离;表示第i个粒子的位置状态;表示第j维度的位置状态;
其中,表示第i个粒子受到的合力;表示维度数量;表示从[0,1]中取的随机数。
2.根据权利要求1所述的基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法,其特征在于:所述第1步骤的具体步骤如下:
第1.1步骤、通过工业相机采集若干工件图像,其中包含存在缺陷工件图像与完好工件图像;
第1.2步骤、对所有图像进行灰度化,即将所有工件彩色图像转化为工件灰度图像;
第1.3步骤、对所有图像进行去均值化和归一化:计算所有图像的像素值的均值,每张图像的所有像素点的像素值减去这个均值,完成样本的去均值化,以凸显不同图像中的差异区域。
3.根据权利要求1所述的基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法,其特征在于:所述第2步骤的具体步骤如下:
第2.1步骤、将每张图像按照m行n列划分为m*n个区域块;
第2.2步骤、使用离散小波变换对于区域中的图像进行5层小波分解。
4.根据权利要求1所述的基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法,其特征在于:所述第4步骤的具体步骤如下:
第4.1步骤、将第5层分解的小波分解系数拼接起来作为特征向量;
第4.2步骤、将不同图像同一区域的小波分解系数生成的特征向量整理起来,组成数据集;
第4.3步骤、使用支持向量机svm对小波分解系数进行训练分类,支持向量机svm的核函数选用径向基核函数。
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