[发明专利]一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111245466.4 申请日: 2021-10-25
公开(公告)号: CN113940459A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 李文翔;王敏锐 申请(专利权)人: 美满芯盛(杭州)微电子有限公司
主分类号: A24F40/46 分类号: A24F40/46;A24F40/10;A24F40/40;A24F40/42;A24F40/70
代理公司: 苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙) 32359 代理人: 罗磊
地址: 311231 浙江省杭州市萧山区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 mems 加热 雾化 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构,其特征在于,包括:硅基加热片(1)和多孔陶瓷芯(2),所述硅基加热片(1)包括加热丝(11)和硅基衬底(12),所述加热丝(11)制作在所述硅基衬底(12)表面,所述硅基衬底(12)上设置有阵列排布的雾化微孔(121),所述硅基衬底(12)固定安装在所述多孔陶瓷芯(2)上,所述雾化微孔(121)连通所述多孔陶瓷芯(2)。

2.根据权利要求1所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构,其特征在于,所述硅基衬底(12)的厚度为5-400微米。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构,其特征在于,所述雾化微孔(121)的直径为2-20微米。

4.根据权利要求3所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构,其特征在于,所述雾化微孔(121)为圆孔或方孔。

5.一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、准备硅基衬底(12);

S2、在所述硅基衬底(12)上沉积金属,并通过干法蚀刻或湿法腐蚀工艺做出特定图形,形成加热丝(11);

S3、在所述硅基衬底(12)上蚀刻雾化微孔(121);

S4、对所述硅基衬底(12)背面进行减薄,漏出正面所述雾化微孔(121),形成硅基加热片(1);

S5、将所述硅基加热片(1)和多孔陶瓷芯(2)贴合,形成雾化芯。

6.根据权利要求5所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构的制造方法,其特征在于,在所述步骤S2中,沉积的金属为Al、Ti/Au、Ti/Pt、Ti/TiN/Au、Ti/TiN/Pt、Ta/Au、Ta/Pt、Ta/TaN/Au、Ta/TaN/Pt中的任意一种。

7.根据权利要求5所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构的制造方法,其特征在于,在所述步骤S3中,采用干法蚀刻工艺或湿法腐蚀工艺进行所述雾化微孔(121)的蚀刻。

8.根据权利要求5所述的一种基于MEMS硅基加热片的雾化芯结构的制造方法,其特征在于,在所述步骤S5中,所述硅基加热片(1)和所述多孔陶瓷芯(2)直接贴合或者通过玻璃浆料粘结工艺、金属共晶工艺贴合。

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