[发明专利]用于电子显微镜的样品承载装置

说明书

本发明公开了一种用于电子显微镜的样品承载装置，所述样品承载装置用于与样品杆连接，所述样品承载装置包括：基座本体；倾转基座，所述倾转基座设于所述基座本体且相对所述基座本体可转动，所述倾转基座适于承载样品；样品承载组件，所述样品承载组件可拆卸地安装于所述倾转基座，所述样品承载组件用于承载样品。由此，通过将样品放置在倾转基座或样品承载组件，能够使样品承载装置承载不同类型的样品，可以实现不同类型的样品在同一个样品杆上兼容使用，从而可以提升样品杆的通用性。

技术领域

本发明涉及显微镜领域，尤其是涉及一种用于电子显微镜的样品承载装置。

背景技术

透射电子显微镜是表征研究材料微观组织结构的核心设备。电子显微镜的样品杆用于承载待检测的样品，是透射电子显微镜的关键部件之一。随着材料科学研究的不断深入，对基于透射电镜的材料微观组织结构观察与表征提出了更高的要求，需要在对样品进行双倾观测的同时，原位对样品施加各种各样的外场，包括：热、冷、电、力、气、液等等各种外场环境，这些外场环境一般都需要样品杆来提供，因此此类样品杆又称为原位单倾样品杆或原位双倾样品杆。根据原位功能的不同，样品杆又分为：热杆、冷杆、力学杆、热电一体杆、气体杆、液体杆，等等。

相关技术中，现有的每个样品杆只适用于一种样品的检测，例如：样品杆只适用于直径3mm的常规样品检测，或者只适用于芯片样品等特定尺寸的样品检测。因此现有的样品杆存在如下不足：(1)样品杆只适合一种类型样品检测，限制了样品杆的通用性；(2)样品杆的样品承载装置不能更换，所以其功能比较单一化，样品杆通用性差。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出了一种用于电子显微镜的样品承载装置，该用于电子显微镜的样品承载装置能够承载不同类型的样品，可以实现不同类型的样品在同一个样品杆上兼容使用，从而可以提升样品杆的通用性。

根据本发明的用于电子显微镜的样品承载装置，所述样品承载装置用于与所述电子显微镜的样品杆连接，所述样品承载装置包括：基座本体；倾转基座，所述倾转基座设于所述基座本体且相对所述基座本体可转动，所述倾转基座适于承载样品；样品承载组件，所述样品承载组件可拆卸地安装于所述倾转基座，所述样品承载组件用于承载样品。

根据本发明的用于电子显微镜的样品承载装置，通过将样品放置在倾转基座或样品承载组件，能够使样品承载装置承载不同类型的样品，可以实现不同类型的样品在同一个样品杆上兼容使用，从而可以提升样品杆的通用性。

在本发明的一些示例中，所述倾转基座和所述基座本体间连接有枢转轴，所述倾转基座绕所述枢转轴的中心轴线相对所述基座本体转动。

在本发明的一些示例中，所述的用于电子显微镜的样品承载装置还包括：第一紧定件，所述基座本体的设有枢转孔，所述枢转轴的部分结构伸入所述枢转孔内，所述第一紧定件设于所述枢转孔内且与所述枢转轴连接。

在本发明的一些示例中，所述基座本体限定出安装空间，所述安装空间在所述基座本体厚度方向贯穿所述基座本体，所述倾转基座设于所述安装空间内。

在本发明的一些示例中，所述基座本体具有样品放置区域，所述样品承载组件可拆卸地安装于所述样品放置区域。

在本发明的一些示例中，所述样品承载组件通过第二紧定件可拆卸地安装于所述基座本体。

在本发明的一些示例中，所述样品承载组件包括：安装座和压片，所述样品夹设在所述安装座和所述压片之间。

在本发明的一些示例中，所述基座本体设有第一通孔，所述样品承载组件设有与所述第一通孔对应的第二通孔，所述样品的至少部分结构与所述第二通孔对应。