[发明专利]测试电路、测试系统和测试方法

说明书

一种测试电路、测试系统和测试方法，所述测试电路包括：测试频率产生单元，适于在相应的控制信号的控制下，生成具有相应测试频率的测试时钟信号；分频处理单元，适于将待测动态D触发器和静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率进行分频处理，得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率；测试机台，适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较；当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时，生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元，直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时，获取对应的测试结果。上述的方案，可以实现动态D触发器的在线自动化测试，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及集成电路领域，尤其涉及一种测试电路、测试系统和测试方法。

背景技术

D触发器除了自身的输入信号外，还具有时钟信号线，通过时钟信号的变化，使得触发器的次态仅仅取决于时钟信号下降沿(或上升沿)到达时刻输入信号的状态，以此来增强靠干扰能力，因此，D触发器也叫边沿触发器。

D触发器可以分为静态D触发器和动态D触发器两大类。其中，动态D触发器相对于静态D触发器，由于减少了用于保持工作状态的正反馈电路，电路结构会大幅度简化，这样既减小了芯片面积，又能降低功耗。

但是，与静态D触发器具有信号锁存功能不同的是，动态D触发器仅通过电容来存储信号，由于内部晶体管的固有漏电，在较低的工作频率下，容易使信号丢失。因此，如何实现动态D触发器的最低工作频率的在线自动化测试成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种测试电路，以实现动态D触发器的在线自动化测试。

为解决上述问题，本发明提供了一种测试电路，包括测试频率产生单元、分频处理单元和测试机台；

所述测试频率产生单元，控制端与所述测试机台耦接，输出端与待测动态D触发器和静态D触发器耦接，适于在相应的控制信号的控制下，生成具有相应测试频率的测试时钟信号并传输至待测动态D触发器和静态D触发器；

所述分频处理单元，输入端分别与所述待测动态D触发器和所述静态D触发器耦接，适于将所述待测动态D触发器和所述静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率分别进行分频处理，得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率；

所述测试机台，输入端与所述分频处理单元耦接，适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较；当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时，生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元，以使得所述测试频率产生单元按照预设的降频步长对测试时钟信号的测试频率进行调整，直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时，获取对应的测试结果。

可选地，所述测试频率产生单元包括频率调节电压源、环形振荡器、时钟信号缓冲器和第一分频器；

所述频率调节电压源，控制端作为所述测试频率产生单元的控制端或与所述测试频率产生单元的控制端耦接，输出端与所述环形振荡器耦接，适于在接收到所述测试机台发送的电压控制信号时，按照预设的降压步长对自身输出的控制电压进行调整；

所述环形振荡器，电压输入端与所述频率调节电压源的输出端耦接，输入端与输出端耦接，输出端还与所述时钟缓冲器耦接，适于基于接收到的控制电压，生成具有相应时钟频率的时钟信号；

所述时钟缓冲器，输入端与所述环形振荡器耦接，输出端与所述第一分频器耦接，适于将所述时钟信号进行缓冲，并将缓冲后的时钟信号输出至所述第一分频器；

所述第一分频器，输入端与所述时钟缓冲器耦接，输出端作为测试频率产生单元的输出端或与所述测试频率产生单元的输出端耦接，适于将所述缓冲后的时钟信号进行分频处理，生成所述测试时钟信号。

可选地，所述环形振荡器包括多个相串联的第一反相器。