[发明专利]自动测试装置

说明书

本公开实施例提供的自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该自动测试装置包括烘箱、设置于烘箱内的放料台、以及探测装置；探测装置包括探杆、设置于探杆上的探测器、以及驱动探杆移动的驱动装置；烘箱上设置有第一通孔，探杆通过驱动装置驱动使得探杆沿第一通孔进出烘箱；驱动装置设置于烘箱的外部。本公开实施例提供的自动测试装置实现了电路高温环境下的连续自动测试，无需人工干预，大大提高了高温测试效率；并且由于本公开实施例所使用的执行机构全部在高温烘箱外部，从而不需要耐高温的执行机构，进而降低了成本。

技术领域

本公开涉及集成电路测试技术领域，具体涉及自动测试装置。

背景技术

近年来，随着国际环境的变化，电子元件正在逐步实现国产化，产量逐年递增。随着产能的提升，要求各生产环节的自动化程度越来越高。在军工、石油等行业，对于电子元件的高温、低温测试和筛选工序一直是制约产能的薄弱环节。

电子元件的测试又分为三温测试，即高温、低温、常温。目前市场上成熟的自动测试设备通常用于常温测试，无法在高温(125℃以上)和低温(-60℃以下)环境中进行测试，要完成高温和低温环境中进行测试，要求测试的测试工装和执行机构必须耐受高低温，比如电子元器件、控制系统、导线、传动、执行和电机等元件。目前，电子元件的三温测试，对于高低温测试，基本上全部依靠人工进行测试，有两种测试方法：1.人工将电路安装在元件适配器上，用长线引到测试工装上进行测试，每只电路需要在高低温环境中放置一定时间，到达目标温度后再放置的一定的时间，一般40min以上，才能开始测试，每测完一只电路需要将长线从高低温箱中取出更换电路。2.为了提高测试效率，在环境温度到达要求温度后，放置大于40min，直接将电路从高低或温环境中取出，立即放置在测试需要适配器上测试，这样测试不符合规范，会导致测试数据的不准确。

综上所述，由于高低温环境对元器件稳定性和可靠性的影响，自动测试设备无法应用于高低温环境下，目前无相关的测试设备能够自动完成高低温环境下的电路测试。

人工虽然能够在高低温环境下对电路进行测试，但是效率极低，电路的装夹取放占据了整个测试时间的一半以上，人工测试的方式已经不能满足产量日益增长的需求，并且经常存在误操作、误测、误判等人为性错误，测试过程中还需要边测边记录数据。相对于常温测试，高低温环境会对操作者造成烫伤或者冻伤等情况，操作者必须做好防护措施。

针对目前无高低温环境下的混合集成电路的自动测试设备，且人工测试效率低和存在其他问题，研究一种用于高低温环境中的混合集成电路自动测试设备意义重大，能够解决从无到有的问题，以实现测试效率质的飞跃。

发明内容

本公开的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、成本低的自动测试装置。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种自动测试装置，其包括：

烘箱、设置于所述烘箱内的放料台、以及探测装置；

所述探测装置包括探杆、设置于所述探杆上的探测器、以及驱动所述探杆移动的驱动装置；

所述烘箱上设置有第一通孔，所述探杆通过所述驱动装置驱动使得所述探杆沿所述第一通孔进出所述烘箱；

所述驱动装置设置于所述烘箱的外部。

在一个实施例中，所述自动测试装置还包括旋转轴和旋转平台，所述旋转平台设置于所述烘箱的外部；

所述烘箱上设置有第二通孔，所述旋转轴通过所述第二通孔延伸出所述烘箱；

所述旋转轴设置于所述烘箱内部的一端与所述放料台连接，所述旋转轴设置于所述烘箱外部的一端与所述旋转平台连接。

在一个实施例中，所述旋转轴上设置有至少一个料盘托盘，每个所述料盘托盘之间均间隔设置，所述料盘托盘能够随所述旋转轴旋转预设角度；