[发明专利]基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置

权利要求书

1.一种基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置，其特征在于，包括激光器(1)、整形透镜(2)、分束系统(3)、成像透镜(4)、面阵CCD接收模块(5)、处理模块(6)；其中：

所述激光器与整形透镜共轴放置，所述激光器发射的短波红外激光光束经过所述整形透镜垂直入射至所述分束系统，经分束系统透射后照射小型成像系统，所述分束系统包括偏振或非偏振两种结构，当所述分束系统为偏振结构时，分束系统由偏振分束器和1/4波片组成，所述偏振分束器将一束入射光分成偏振方向、传播方向相互垂直的两束线偏振光，所述1/4波片配合所述偏振分束器作为自由空间光隔离器，改变线偏振光的偏振方向；当所述分束系统为非偏振结构中，分束系统由分束镜组成，将一束入射光分成传播方向相互垂直的两束光；

所述小型成像系统对激光进行反射，激光再次经过所述分束系统后，反射至所述成像透镜，之后通过所述面阵CCD接收模块检测小型成像系统猫眼效应产生的衍射光斑图样，并产生回波信号发送至所述处理模块；所述处理模块对所述回波信号中衍射光斑图样进行处理，获得所述待测物体的目标信息，确定目标是否是镀膜小型成像系统。

2.如权利要求1所述的一种基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置，其特征在于，该装置还包括显示模块(7)，所述显示模块与所述处理模块连接，用于向用户提供待测物体的目标图样信息和处理结果。

3.如权利要求1或2所述的所述的一种基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置，其特征在于，所述成像透镜为单透镜或胶合透镜或镜头组。

4.如权利要求1或2所述的所述的一种基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置，其特征在于，所述目标信息包括待测目标的衍射成像光斑的光强分布、光束轮廓以及光斑阵列分布。

5.如权利要求1或2所述的所述的一种基于短波红外激光检测镀膜小型成像系统的探测装置，其特征在于，所述激光器发射1100nm～2526nm短波红外激光光束。