[发明专利]一种对光模块进行参数测试的方法及装置

说明书

本发明涉及一种对光模块进行参数测试的方法及装置。其方法部分主要包括：设置BERT中PG的输出码型为PRBS13Q；被测光模块内部参数写入：从标准光模块1中读取内部光发射方向的DSP芯片1、DRIVER芯片1和TOSA1的参数配置，将其写入被测光模块内部各对应芯片的参数配置中；设置与被测光模块相连的光示波器和CDR，锁定标准速率的PAM4光信号，等待并读取示波器中计算出的PAM4参数值；判断读取的参数值是否符合要求；最终参数验证：设置BERT中PG的输出码型为SSPRQ，等待并读取光示波器中计算出的PAM4参数值并验证是否符合要求。本发明可以解决直接在SSPRQ码型条件下进行测试难以使得光信号的参数符合要求的问题。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，特别是涉及一种对光模块进行参数测试的方法及装置。

背景技术

比特误码率测试仪(Bit Error Ratio Tester，BERT)是一种测量数据传输系统中比特误码率(Bit Error Ratio，BER)的电子测试设备，其中包含码型发生器(PatternGenerator，PG)和误码检测器(Error Detector，ED)。在光模块和光器件的研发和生产制造等环节中，BERT是对其进行设计验证和一致性测试所必配的测试设备。

800Gb/s光模块电接口(金手指)中高速电信号的定义为8路50GBaud(即100Gb/s)PAM4差分信号，这就要求在800Gb/s光模块的调试与测试过程中，必须在模块的电接口(金手指)上同时输入8路50GBaud PAM4差分信号和输出8路50GBaud PAM4差分信号，采用的BERT必须能同时发射8路50GBaud PAM4差分信号和接收8路50GBaud PAM4差分信号。

目前广泛使用的100Gb/s BERT只能支持收发4路25Gb/s NRZ差分信号，而400Gb/sBERT只能支持收发8路25GBaud PAM4差分信号，显然这些设备不能满足800Gb/s光模块的测试需求。

同时，800Gb/s光模块的参数测试采用的是PAM4信号格式，PAM4信号参数的调试与测试比NRZ信号要复杂得多，因此在测试与调试的过程中不可避免的要对被测光模块内部芯片的参数设置进行调整，尤其是被测光模块内部DSP芯片的参数。现有的100Gb/s和400Gb/s BERT设备以及采用的测试方法，在测试时只能按标准设定速率和码型让BERT(BitError Ratio Tester，比特误码率测试仪)起到PG(Pattern Generator，码型发生器)和ED(Error Detector，误码检测器)的功能，对于被测光模块内部参数的调整和优化不能起到任何作用。

对于上述参数测试问题，虽然IEEE标准中将BERT的速率规定为53.125GBaud，码型规定为SSPRQ。但是对于PAM4信号来说，SSPRQ这种码型的长度较长，在这种码型下的光信号质量一般会比短码型PRBS13Q下的光信号质量差，示波器软件对于SSPRQ码型下的PAM4参数计算时间也会比短码型PRBS13Q下的计算时间长，再加上对于模块内部的参数需要反复调整，如果直接在SSPRQ码型条件下被测模块光发射信号，往往难以使得光信号的参数符合要求。另外，虽然IEEE标准规定对PAM4信号测试接收灵敏度时的误码率为2.4×10^-4，但事实上这个要求过低，如果这个标准来验收，几乎不可能正常通信。根据实测经验，误码率需要达到1×10^-7的水平才能确保光模块在实际的工作链路中正常通信，现有的光模块测试时无法保证这个效果，所以会影响光模块在实际工作链路中正常通信。此外，现有BERT设备因体积较大、不便携带，且不带有光模块接口，对于工程现场简单快速验证800Gb/s光模块的需求也无法实现。

鉴于此，如何克服现有技术所存在的缺陷，解决上述被测光模块的参数测试问题以及测试设备问题，是本技术领域待解决的难题。

发明内容