[发明专利]一种MMC子模块的高温运行试验方法和系统

权利要求书

1.一种MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，包括：

将试验电路的试验参数代入所述试验电路以获取被试子模块在预设时间内的平均损耗；其中，所述试验电路包括：被试子模块、陪试子模块、负载电抗和补能电源，所述被试子模块的输入端通过所述负载电抗与所述陪试子模块的输入端电连接，所述被试子模块的输出端及所述陪试子模块的输出端均与所述补能电源电连接；

将所述平均损耗代入所述MMC子模块的暂态热阻抗模型，以获取所述MMC子模块的最高结温和结温波动；

判断所述最高结温与所述结温波动是否符合预设条件，若符合则将所述试验参数作为所述MMC子模块的运行参数；若不符合，则调整所述试验参数，直至所述MMC子模块的最高结温和结温波动符合预设条件。

2.根据权利要求1所述的MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，将所述试验电路的试验参数代入所述试验电路以获取所述被试子模块在预设时间内的平均损耗包括：

将所述试验电路的试验电压、负载电流、开关频率、进水温度以及进水流量代入所述试验电路。

3.根据权利要求2所述的MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，所述调整所述试验参数，直至所述MMC子模块的最高结温和结温波动符合预设条件包括：

固定所述试验电压、所述负载电流、所述开关频率、所述进水温度以及所述进水流量中的四个参数，调整另外一个参数，直至所述MMC子模块的最高结温和结温波动符合预设条件。

4.根据权利要求1所述的MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，所述预设条件为：所述最高结温与预设最高结温的误差在第一预设范围内，且所述结温波动与预设结温波动的误差在第二预设范围内。

5.根据权利要求1所述的MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，在将试验电路的试验参数代入所述试验电路以获取所述被试子模块在预设时间内的平均损耗之前还包括：

利用仿真软件搭建所述试验电路。

6.一种MMC子模块的高温运行试验系统，用于执行权利要求1-5任一项所述的MMC子模块的高温运行试验方法，其特征在于，所述MMC子模块的高温运行试验系统包括：

试验电路和所述MMC子模块的暂态热阻抗模型；

所述试验电路包括：被试子模块、陪试子模块、负载电抗和补能电源，所述被试子模块的输入端通过所述负载电抗与所述陪试子模块的输入端电连接，所述被试子模块的输出端及所述陪试子模块的输出端均与所述补能电源电连接。

7.根据权利要求6所述的MMC子模块的高温运行试验系统，其特征在于，所述被试子模块包括：第一电容、第一IGBT、第一二极管、第二IGBT和第二二极管；

所述第一IGBT的发射极与所述第一二极管的阳极电连接，所述第一IGBT的集电极与所述第一二极管的阴极电连接并作为所述被试子模块的第一输出端；

所述第二IGBT的发射极与所述第二二极管的阳极电连接并作为所述被试子模块的第二输出端，所述第二IGBT的集电极与所述第二二极管的阴极电连接，并与所述第一IGBT的发射极电连接后作为所述被试子模块的输入端；

所述第一电容的第一端与所述第一IGBT的集电极电连接，所述第一电容的第二端与所述第二IGBT的发射极电连接。

8.根据权利要求7所述的MMC子模块的高温运行试验系统，其特征在于，所述陪试子模块包括：第二电容、第三IGBT、第三二极管、第四IGBT和第四二极管；

所述第三IGBT的发射极与所述第三二极管的阳极电连接，所述第三IGBT的集电极与所述第三二极管的阴极电连接并作为所述陪试子模块的第一输出端；

所述第四IGBT的发射极与所述第四二极管的阳极电连接并作为所述陪试子模块的第二输出端，所述第四IGBT的集电极与所述第四二极管的阴极电连接，并与所述第三IGBT的发射极电连接后作为所述陪试子模块的输入端；

所述第二电容的第一端与所述第三IGBT的集电极电连接，所述第二电容的第二端与所述第四IGBT的发射极电连接。