[发明专利]一种NTC产品的耐久性测试系统

说明书

本发明涉及NTC测试领域，特别地涉及一种NTC产品的耐久性测试系统。本发明公开了一种NTC产品的耐久性测试系统，包括电源、测试设备和电阻箱，电源、测试设备和电阻箱依次电连接构成测试回路，测试设备用于安装待测试的NTC产品而使待测试的NTC产品接入测试回路中，电阻箱内设有负载电阻单元，用于提供测试回路中的负载电阻，电阻箱上设有拨动开关，用于调节负载电阻单元的阻值大小。本发明可以实现NTC产品的耐久性测试，负载电阻大小的调节方便、快速，调节精度高，安全性高，且结构紧凑简洁。

技术领域

本发明属于NTC测试领域，具体地涉及一种NTC产品的耐久性测试系统。

背景技术

NTC(Negative Temperature Coefficient)热敏电阻是指随温度上升电阻呈指数关系减小、具有负温度系数的热敏电阻，利用这一特性既可制成测温、温度补偿和控温组件，又可以制成功率型组件，抑制电路的浪涌电流等。

NTC产品测试包括型式实验和UL认证实验，UL认证实验包括耐久性测试。在进行NTC产品的耐久性测试时，测试回路中会设有负载电阻和电容，负载电阻用于模拟负载的阻抗，电容用于模拟负载的容抗。为了便于调节测试电流大小，负载电阻的阻值需可调节。现有的阻值可调节的负载电阻都是采用滑动变阻器来实现，其存在的缺点是：调节精度低，要调到所需阻值，有时候需反复来回滑动微调，调节不方便、速度慢，且安全性低。

此外，现有的进行NTC产品耐久性测试的测试装置都是在工作台上搭建而成的，整个测试装置线路较杂乱，测试安全性低，测试效果也容易受干扰。

发明内容

本发明的目的在于提供一种NTC产品的耐久性测试系统用以解决上述存在的技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种NTC产品的耐久性测试系统，包括电源、测试设备和电阻箱，电源、测试设备和电阻箱依次电连接构成测试回路，测试设备用于安装待测试的NTC产品而使待测试的NTC产品接入测试回路中，电阻箱内设有负载电阻单元，用于提供测试回路中的负载电阻，电阻箱上设有拨动开关，用于调节负载电阻单元的阻值大小。

进一步的，所述负载电阻单元包括多个子负载电阻，拨动开关的数量与子负载电阻的数量相同，多个子负载电阻分别与多个拨动开关一一串联后再并联设置。

进一步的，所述测试设备包括柜体，柜体设有测试腔室，测试腔室设有可打开的第一腔门，测试腔室内设有测试工装，测试工装用于固定待测试的NTC产品而使待测试的NTC产品接入测试回路中。

更进一步的，所述测试工装设有固定结构，固定结构包括接线端子，接线端子用于将待测试的NTC产品的引脚锁紧在测试工装上而使待测试的NTC产品接入测试回路中。

进一步的，所述测试回路还包括电容和泄放电阻，电容和负载电阻并联设置，泄放电阻与电容并联设置，柜体还设有第一电气腔室，第一电气腔室设有可打开的第二腔门，电容与泄放电阻可拆卸地设置在第一电气腔室内。

更进一步的，所述第一电气腔室内设有第一安装支架，泄放电阻可拆卸地固定在第一安装支架上而接在测试回路中，可拆卸的固定连接方式可以是螺纹连接、卡扣连接等。

进一步的，所述第一电气腔室内设有第二安装支架，第二安装支架设有插槽，电容可拆卸地插设在插槽内而接在测试回路中。

进一步的，所述柜体内还设有第二电气腔室，第二电气腔室设有主控电路，主控电路用于控制测试回路的通断。

更进一步的，所述柜体还设有开门检测机构，开门检测机构用于检测第一腔门的开关状态并传输给主控电路进行测试回路的通断控制。

进一步的，所述电源的数量为两个，两个电源的输出电压不同。

本发明的有益技术效果：