[发明专利]一种存储芯片用低功耗质量检测设备

权利要求书

1.一种存储芯片用低功耗质量检测设备，包括滑道(1)，其特征在于：所述滑道(1)的内壁滑动连接有电路板(2)，所述滑道(1)的前部和后部均固定连接有滑板(3)，所述滑板(3)的上表面固定连接有分离装置(4)，所述滑道(1)的前部设置有收集装置(5)，所述滑道(1)的内壁固定连接有隔板(6)，所述滑道(1)的内壁分别滑动连接有前支撑板(7)和后支撑板(8)，所述滑道(1)的前部和后部分别开设有前出料口(9)和后出料口(10)，所述滑道(1)的内壁固定连接有挡板(11)，所述后支撑板(8)的前部固定连接有卸料弹片(12)。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述滑板(3)位于收集装置(5)的下方，所述隔板(6)位于电路板(2)的下方，所述挡板(11)位于电路板(2)和隔板(6)之间，所述前支撑板(7)和后支撑板(8)分别位于隔板(6)的前部和后部。

3.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述前支撑板(7)和后支撑板(8)的底部均通过弹簧与滑道(1)的内壁活动连接，所述卸料弹片(12)的表面与前支撑板(7)的后部相互接触，所述挡板(11)和隔板(6)的顶部设置有圆角。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述分离装置(4)包括有滑料弹片(41)，所述滑料弹片(41)的上表面固定连接有弹性杆(42)，所述滑料弹片(41)的上表面固定连接有绳索一(43)，所述滑道(1)的前部固定连接有支撑块(46)。

5.根据权利要求4所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述绳索一(43)的表面固定连接有绳索二(44)，所述绳索二(44)的表面缠绕有旋转块(45)。

6.根据权利要求4所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述滑料弹片(41)的表面与滑板(3)的上表面固定连接，所述滑料弹片(41)的表面开设有若干个通孔，所述绳索一(43)的表面与支撑块(46)的内壁滑动连接。

7.根据权利要求5所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述绳索二(44)的表面分别与支撑块(46)和滑道(1)的内壁滑动连接，所述旋转块(45)的表面通过扭簧与滑道(1)的内壁转动连接。

8.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述收集装置(5)包括有收集箱(51)，所述收集箱(51)的顶部固定连接有限位板(52)，所述限位板(52)的内壁固定连接有挡片(53)，所述收集箱(51)的内壁滑动连接有移动板(54)，所述移动板(54)的顶部固定连接有海绵(55)，所述移动板(54)的底部固定连接有弹性件(56)，所述弹性件(56)的表面固定连接有推板(57)。

9.根据权利要求8所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述收集箱(51)的后部与滑道(1)的前部固定连接，所述海绵(55)的表面与收集箱(51)的内壁滑动连接，所述移动板(54)的底部与绳索一(43)的顶端固定连接，所述收集箱(51)的内壁与绳索一(43)的表面滑动连接，所述推板(57)的表面分别与收集箱(51)和挡板(11)的内壁滑动连接。