[发明专利]孔缺陷检测设备和方法在审

专利信息
申请号: 202111270400.0 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN114034718A 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 吴梦莹;朱健林;关雪丹;陈嘉杰;张美玲;韩小雷;程书朋;田荣 申请(专利权)人: 中广核研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
主分类号: G01N21/954 分类号: G01N21/954;G01N21/01
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 曾旻辉
地址: 518048 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 设备 方法
【说明书】:

发明提供的一种孔缺陷检测设备和方法,包括行走组件和检测组件,行走组件能够相对检测工件移动,检测组件安装于行走组件上。在使用该设备时,行走组件能够带动检测组件沿检测工件的表面移动,当检测组件移动到待检孔的正上方时,行走组件停止移动,检测端伸入待检孔的孔内。检测端在孔内绕自身轴线转动即可获取待检孔的周向图像,同时检测端在沿自身轴线转动的同时还可沿轴线方向移动以获取待检孔的整个孔壁图像,再通过对整个孔壁图像的分析即可实现对孔缺陷的识别。通过这样的设置,孔缺陷检测设备即可实现对孔的孔壁图像的获取,避免了因人工检测而导致核辐射对检测人员的伤害,同时也能提高检测质量和检测效率。

技术领域

本发明涉及核电厂维修检测技术领域,特别是涉及孔缺陷检测设备和方法。

背景技术

在核电行业内,要求在进行核电换料检修时,需要将压力容器打开并对螺栓孔的螺牙进行缺陷检测和识别,以防止螺牙缺陷造成压力容器关盖后螺栓被咬死的情况。通常,传统的检测方式是采用人工作业的方式对每个螺栓孔进行检测。然而采用人工检测会使检测人员承受一定量的核辐射,从而对检测人员的身体健康造成损害;同时也容易出现因为检测人员的疏忽而导致漏检,从而导致检测质量较低;如果进行第二次复检,其不仅会降低整体的检测效率,而且还会大大增加检测成本。

发明内容

基于此,有必要针对人工检测质量和检测效率较低且会对检测人员的身体造成损害的问题,提供一种孔缺陷检测方法。

一种孔缺陷检测方法,包括以下步骤:获知待检孔的位置并将检测端伸入待检孔内;其中,以所述检测端置于所述待检孔内的初始位置为起点;将所述检测端绕所述待检孔的轴线转动以获取所述待检孔第一层的周向图像,而后将所述检测端沿所述待检孔的轴向向孔口处移动第一距离并再次转动以获取所述待检孔第二层的周向图像,重复上述操作,直至所述检测端移动至所述待检孔的孔口边缘,即可获取整个待检孔的孔壁图像;对整个所述待检孔的孔壁图像进行识别分析即可判断出待检孔的缺陷区域。

在其中一个实施例中,在获取整个所述待检孔的孔壁图像时,所述孔的缺陷检测方法还包括以下步骤:以所述检测端伸入所述待检孔的最深位置处为所述初始位置,并获知此时所述待检孔的深度H;以所述检测端单次获得的所述待检孔的周向图像沿所述待检孔的轴向宽度为L,确定出所述检测端分层获取所述待检孔的周向图像层数为H/L;其中,第一距离的数值与宽度L相同。

在其中一个实施例中,在获取所述待检孔的孔壁图像时,还包括以下步骤:以所述检测端单次获取所述待检孔的图像沿所述待检孔的周向长度所对应的圆心角为A,确定出所述检测端每层获取图像的次数为360°/A;将每一层获取的多个所述图像拼接成所述待检孔的单层周向图像。

在其中一个实施例中,在对整个待检孔的图像进行识别分析时,还包括以下步骤:将所述待检孔的所有单层周向图像沿所述待检孔的轴向拼接成所述待检孔的整个孔壁图像;根据所述整个孔壁图像识别出所述待检孔的缺陷区域;将所述缺陷区域对应的数据与预设的缺陷数值阈值进行对比,以判断是否存有缺陷以及判断缺陷的类型

在其中一个实施例中,在获知孔的位置包括以下步骤:在获知所述待检孔的位置时,以所述待检孔的边缘处与所述待检孔的孔心的连线互相垂直的两个点分别为第一位置和第二位置,以所述第一位置为所述检测端优先靠近的位置;优先获取所述第一位置的信息,待所述第二位置的信息被获取时,即可获取到所述待检孔的位置。

本发明还提供一种孔缺陷检测设备,能够用于解决上述的至少一个技术问题。

一种孔缺陷检测设备,包括:行走组件,所述行走组件能够相对检测工件移动;检测组件,安装于所述行走组件;所述检测组件包括检测端,所述检测端能够沿第一方向往复移动,且所述检测端能够绕自身轴线转动;其中,所述第一方向为检测工件上待检孔的轴线方向。

在其中一个实施例中,所述检测组件包括升降机构,所述检测端连接于所述升降机构,所述升降机构能够驱动所述检测端沿第一方向往复运动。

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