[发明专利]一种检查芯片周围电容的方法、系统、设备和存储介质

权利要求书

1.一种检查芯片周围电容的方法，其特征在于，包括如下步骤：

确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；

获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；

确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及

响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求，

方法还包括：

判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及

响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容，

所述检测所述第二电容是否为滤波电容包括：

判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及

响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。

3.一种检查芯片周围电容的系统，其特征在于，包括：

第一获取模块，配置用于确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；

第二获取模块，配置用于获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；

判断模块，配置用于确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及

确定模块，配置用于响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求，

系统还包括检测模块，配置用于：

判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及

响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容，

所述检测模块进一步配置用于：

判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及

响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述系统还包括告警模块，配置用于：

响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。

5.一种计算机设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现权利要求1-2任意一项所述方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-2任意一项所述方法的步骤。