[发明专利]一种板卡结构、X射线平板探测装置、系统及其控制方法

说明书

本发明提供了一种板卡结构、X射线平板探测装置、系统及其控制方法，其中，板卡结构包括：相互独立的底板、主控板、ROIC板和栅极驱动板；底板被划分为主控区、读取区和扫描区，底板包括设置在主控区的第一FMC接插件，设置在读取区的第二FMC接插件以及设置在扫描区的第三FMC接插件；主控板包括用于与第一FMC接插件耦接的第一FMC接口，ROIC板包括用于与第二FMC接插件耦接的第二FMC接口，栅极驱动板包括用于与第三FMC接插件耦接的第三FMC接口；其中，主控板用于获取控制指令，根据控制指令通过底板向ROIC板加载第一控制信号以及向栅极驱动板加载第二控制信号，获得被测对象的图像数据。

技术领域

本发明涉及X射线摄像技术领域，特别涉及一种板卡结构、X射线平板探测装置、系统及其控制方法。

背景技术

近年来，X射线检测因其成像速度快、分辨率高、信噪比高等优点，广泛应用于医疗影像、工业检测、安保检测以及科研等领域。目前，比较常见的X射线检测技术是20世纪90年代末出现的X射线数字照相(Digital Radiography，DR)检测技术。X射线数字照相检测技术中使用了平板探测器(Flat Panel Detector，FPD)，其像素尺寸可小于0.1mm，因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相系统媲美，同时还克服了胶片照相系统中的缺点，也为图像的计算机处理提供了方便。

现有平板探测器常采用将主控板、读取集成电路(Read Out IntegratedCircuit，ROIC)板和栅极驱动板设置为一体的一体化结构，或者将主控板和ROIC板设置为一体的半一体化结构。相应地，结构和功能较为固化。比如，当ROIC板上诸如ROIC芯片的型号、个数、间距发生改变时，必须整体更换该一体化结构。再比如，当栅极驱动板上诸如栅极驱动芯片的型号、个数、间距发生改变时，必须整体更换该一体化结构。即只要ROIC板、栅极驱动板中的任一个的参数发生改变时，就需要整体更换该一体化结构。这样就会造成开发周期长、材料和研发成本增加，同时也会放大潜在的风险、研发成功率下降。

如何提高平板探测器的制作效率成为急需解决的技术问题。

发明内容

本发明提供了一种板卡结构、X射线平板探测装置、系统及其控制方法，用于提高平板探测器的制作效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种板卡结构，包括：

相互独立的底板、主控板、ROIC板和栅极驱动板；其中：

所述底板被划分为主控区、读取区和扫描区，所述底板包括设置在所述主控区的第一FMC接插件，设置在所述读取区的第二FMC接插件以及设置在所述扫描区的第三FMC接插件；

所述主控板包括用于与所述第一FMC接插件耦接的第一FMC接口，所述ROIC板包括用于与所述第二FMC接插件耦接的第二FMC接口，所述栅极驱动板包括用于与所述第三FMC接插件耦接的第三FMC接口；

其中，所述主控板用于获取控制指令，根据所述控制指令通过所述底板向所述ROIC板加载第一控制信号以及向所述栅极驱动板加载第二控制信号，获得被测对象的图像数据。

在一种可能的实现方式中，所述ROIC板还包括与所述第二FMC接口耦接且与ROIC芯片一一对应设置的第一芯片连接器，所述第一芯片连接器用于耦接对应的所述ROIC芯片，所述第一芯片连接器在所述ROIC板上的正投影与所述第二FMC接口在所述ROIC板上的正投影互不交叠；所述ROIC板用于通过所述第二FMC接口获得所述主控板对所述控制指令解析后的配置指令，并根据所述配置指令对所述ROIC芯片进行信号配置，且在信号配置之后，通过所述第二FMC接口向所述ROIC芯片发送所述第一控制信号，以使所述ROIC芯片按照所述第一控制信号进行图像数据的读取。