[发明专利]自监督深度网络的训练方法、图像深度的获取方法和装置在审

专利信息
申请号: 202111273034.4 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN113888613A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 沈力;陈卓;陶大程 申请(专利权)人: 京东科技信息技术有限公司
主分类号: G06T7/55 分类号: G06T7/55;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨泽;黄健
地址: 100176 北京市北京经济技*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 监督 深度 网络 训练 方法 图像 获取 装置
【权利要求书】:

1.一种自监督深度网络的训练方法,其特征在于,包括:

将训练图像对输入到位姿网络中,得到所述训练图像对的位姿偏移,所述训练图像对包括图像t和图像t+m;

将所述训练图像对输入到偏移网络中,得到所述训练图像对的特征对齐偏移和所述图像t+m的对齐特征;

将所述训练图像对输入到深度网络中,得到所述图像t的深度图和所述图像t+m的深度图;

获取所述图像t和所述图像t+m的光度一致性损失、时空一致性损失和平滑损失;

根据所述图像t+m的对齐特征重建所述图像t对应的重建图像,计算所述重建图像和所述图像t的重建损失;

根据所述训练图像对的特征对齐偏移和所述图像t+m的深度特征,计算得到所述图像t+m的对齐深度特征,根据图像t+m的对齐深度特征和所述图像t的深度特征,计算得到深度特征损失;

将所述深度特征损失和所述重建损失之和确定为深度特征对齐损失;

计算所述图像t和所述图像t+m的体素密度对齐损失;

根据所述光度一致性损失、所述时空一致性损失、所述平滑损失、所述深度特征对齐损失和所述体素密度对齐损失确定总损失;

对所述总损失进行优化得到所述位姿网络、偏移网络和所述深度网络的参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述训练图像对输入到偏移网络中,得到所述训练图像对的特征对齐偏移和所述图像t+m的对齐特征,包括:

提取所述图像t和所述图像t+m的特征;

将所述图像t和所述图像t+m的特征输入到可变形卷积网络中:

其中,fdc表示所述可变形卷积网络,Ft+m表示所述图像t+m的特征,θt+m→t表示所述训练图像对的特征对齐偏移,表示所述图像t+m的对齐特征;

其中,fdc的计算过程表示为:

pk是一个核大小为n×n的标准卷积的第k个采样偏移,p+pk+Δpk是可变形卷积在某个位置p处学到的第k个偏移;

通过所述变形卷积网络的学习得到所述特征对齐偏移和所述图像t+m的对齐特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,计算所述重建图像和所述图像t的重建损失,包括:

通过如下公式计算所述重建损失:

其中,表示所述重建图像,It表示所述图像t,LRE表示所述重建损失。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述训练图像对的特征对齐偏移和所述图像t+m的深度特征,计算得到所述图像t+m的对齐深度特征,根据图像t+m的对齐深度特征和所述图像t的深度特征,计算得到深度特征损失,包括:

通过如下公式计算所述图像t+m的对齐深度特征:

其中,表示所述图像t+m的深度特征,θt+m→t表示所述训练图像对的特征对齐偏移,fdc表示所述可变形卷积网络,表示所述图像t+m的对齐深度特征;

通过如下公式计算所述深度特征损失:

其中,LDF表示所述深度特征损失,表示所述图像t的深度特征。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述计算所述图像t和所述图像t+m的体素密度对齐损失,包括:

根据所述图像t+m的深度图得到所述图像t+m对应的点云,根据所述图像t的深度图得到所述图像t对应的点云;

根据所述图像t+m对应的点云以及所述位姿偏移,得到所述图像t+m转换后的点云;

根据所述图像t对应的点云计算得到所述图像t的体素密度,根据所述图像t+m转换后的点云计算得到所述图像t+m的体素密度;

根据所述图像t的体素密度和所述图像t+m的体素密度计算体素密度对齐损失,所述体素密度对齐损失要求所述图像t和所述图像t+m中相同位置处的体素中的三维点的数量相同。

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