[发明专利]一种提高触控灵敏度的驱动方法

说明书

本发明公开了一种提高触控灵敏度的驱动方法，包括如下步骤：S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TP sensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；S2：在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的TP信号；S3：每隔一定周期，重新矫正三个信号的Tr和Tf同步。本发明改善触控信号减少寄生电容，可有效减少寄生电容的出现，改善TP Demux结构的触控灵敏度，从而改善触控灵敏度，优化触控体验。

技术领域

本发明属于触控显示屏技术领域，具体涉及一种提高触控灵敏度的驱动方法。

背景技术

传统的TP触控结构（如图1所示），由IC一个通道控制一个TP sensor（触控感应器件），若想实现更灵敏、精度更高的触控，则需要增加IC通道数，而IC尺寸则会变大，且面板Fanout区（布线区）走线会增加，从而导致面板下border（边框）增大；

图2为Demux（多路输出选择器）结构的一种，采用一对三的驱动结构，由IC一个通道控制三个TP sensor。使用Demux技术可降低驱动IC通道数，相比非Demux设计，可减少面板Fanout区走线，节省面板下border，提高屏占比。

但是，若采用Demux驱动结构，IC的TP走线就需要通过TFT控制TP sensor，相比较单一TP走线的结构，增加TFT会使整个TP走线的RC loading增加，从而导致TP信号（TP走线传递到TP Sensor的信号）出现上升沿时间和下降沿时间变差，而数据线和扫描线上的同驱讯号的上升沿时间（Tr）和下降沿时间（Tf）不变，因此数据线、扫描线对TP sensor的压降不同从而出现寄生电容（如图3所示），导致影响触控体验，为此，我们提出一种提高触控灵敏度的驱动方法，以解决上述背景技术中提到的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种提高触控灵敏度的驱动方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种提高触控灵敏度的驱动方法，包括如下步骤：

S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TP sensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；

S2：在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的TP信号；

当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf不一致时，需将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致后再输出；

当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf一致时，正常输出数据线和扫描线信号即可；

S3：每隔一定周期IC会检测一次触控时序的TP信号的Tr和Tf，并重新矫正三个信号的Tr和Tf同步，不断重复以上步骤即可。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明提供的一种提高触控灵敏度的驱动方法，本发明改善触控信号减少寄生电容，可有效减少寄生电容的出现，改善TP Demux结构的触控灵敏度，从而改善触控灵敏度，优化触控体验。

附图说明

图1为传统TP触控结构示意图；

图2为TP Demux触控结构示意图；

图3为耦合电容示意图；

图4为无TP Demux TP信号示意图；

图5为TP Demux 异常TP信号示意图；