[发明专利]模印测试分析装置以及模印测试分析方法

权利要求书

1.一种模印测试分析装置，其特征在于，所述装置包括：

载台，用于放置显示模组；

压头，用于压覆在所述显示模组上；

检测分析设备，用于在所述压头压覆在所述显示模组上后，检测所述显示模组上产生的模印，并对所述模印进行分析。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述压头与所述显示模组抵压的接触面光滑，或者，所述压头与所述显示模组抵压的接触面设有凸起。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述载台开设有检测窗口，所述检测分析设备位于所述载台背离所述载台的承载面一侧，以透过所述检测窗口检测所述显示模组上产生的所述模印。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述检测窗口的开口面积大于所述压头与所述显示模组抵压的接触面的面积。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述载台嵌设有透明载板，所述透明载板用于承载所述显示模组，所述检测分析设备位于所述载台背离所述载台的承载面一侧，以透过所述透明载板检测所述显示模组上产生的所述模印，优选地，所述透明载板的材料包括玻璃。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

机械臂，用于抓取所述压头，并带动所述压头压覆在所述显示模组上。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述压头包括：

抵压部，呈板状结构；

把手部，与所述抵压部抵接，并自所述抵压部向外延伸。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述压头与所述显示模组接触的抵压部的材料为柔性材料，优选地，所述柔性材料包括硅胶。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测分析设备包括光学检测分析设备，优选地，所述光学检测分析设备包括电荷耦合元件相机。

10.一种模印测试分析方法，其特征在于，所述方法包括：

将显示模组放置在载台上；

将压头压覆在所述显示模组上；

利用检测分析设备检测所述显示模组上产生的模印，并对所述模印进行分析。