[发明专利]一种耐辐照井型电离室探测器

说明书

本发明公开了一种耐辐照井型电离室探测器，属于核工业技术领域，包括：壳体和样品架；所述壳体包括：外筒和设置在外筒内部的内筒；所述外筒和内筒底部均密封，外筒和内筒顶部均开口，且外筒和内筒顶部之间通过壳体顶盖连接；其中，所述样品架卡接在内筒上；所述外筒和内筒之间设有收集极和两个高压极，其中，两个高压极分别位于收集极的两侧，且在高压极与收集极之间填充有惰性气体。本发明通过将样品置于井型电离室的电离井中样品架上，用电离室探测器测量样品的总γ放射性水平。测量信号先后经过转换、放大和收集步骤，并运用前置处理器中ARM处理系统进行数据处理，最终可得到样品中总γ放射性活度浓度。

技术领域

本发明涉及核工业技术领域，具体涉及一种耐辐照井型电离室探测器。

背景技术

热室是核材料生产和处理中广泛应用的基础设施，由于其内部存在极强的辐射活性物质及强腐蚀气氛环境，普通测量装置无法达到在此环境下工作的要求。

目前，市场上的井型电离室不能同时满足热室内高辐照、强腐蚀、易电离气氛环境条件下，对装置的可耐辐照和优良电气机械性能等一系列要求。

为实现热室内部放射性样品的总γ活度测量，井型电离室的使用、检修、维护需具备耐辐照功能，因此，需要设计一种能够实现在热室环境下实现放射性样品总γ活度的定量或半定量测定的监测装置。

发明内容

本发明针对上述问题，提供一种耐辐照井型电离室探测器。

本发明采用的技术方案为：一种耐辐照井型电离室探测器，包括：壳体和样品架；

所述壳体包括：外筒和设置在外筒内部的内筒；所述外筒和内筒底部均密封，外筒和内筒顶部均开口，且外筒和内筒顶部之间通过壳体顶盖连接；其中，所述样品架卡接在内筒上；

所述外筒和内筒之间设有收集极和两个高压极，其中，两个高压极分别位于收集极的两侧，且在高压极与收集极之间填充有惰性气体；所述收集极和高压极的上端于壳体顶盖之间均设有隔离件；

所述壳体外底部下方设有隔离盖子，所述隔离盖子与壳体外底部之间留有间距，且隔离盖子外侧与壳体外侧之间密封连接；其中，所述隔离盖子与壳体外底部之间设有陶瓷电极和充气管；所述陶瓷电极和充气管均贯穿连接在壳体外底部上。

进一步地，所述隔离件包括：顶部隔离件和底部隔离件；

所述顶部隔离件包括：顶部内隔离件、顶部中隔离件和顶部外隔离件；其中，所述顶部内隔离件设置在收集极与内筒之间的高压极上端，所述顶部中隔离件设置在收集极的上端，所述顶部外隔离件设置在外筒与收集极之间的高压极上端；

所述底部隔离件包括：底部内隔离件、底部中隔离件和底部外隔离件；其中，所述底部内隔离件设置在收集极与内筒之间的高压极下端，所述底部中隔离件设置在收集极的下端，所述底部外隔离件设置在外筒与收集极之间的高压极下端。

更进一步地，所述隔离盖子内端面上设有底盖，所述底盖上端面与密封件之间设有密封垫圈。

更进一步地，所述壳体的夹层内设有绝缘体，所述绝缘体位与壳体底部；其中，所述高压极和收集极的下端均穿插在绝缘体上。

更进一步地，所述样品架包括：内样品架和外样品架；

所述内样品架的侧面上设有凹槽，其中，所述外样品架滑动连接在凹槽内；所述外样品架上端面上设有阻挡板，下端上设有与外样品架下端面垂直的弹簧后板，所述弹簧后板与凹槽之间设有弹簧块；

其中，所述弹簧后板与弹簧块之间设有弹簧；且所述弹簧后板和弹簧块的下端面均与壳体一侧的上端面连接；

所述内样品架的下端身伸入内筒内，且在内样品架的下端设有样品瓶。

更进一步地，所述凹槽呈L型结构，所述内样品架的剖切面呈钩型结构。